微束分析分析电镜（ＡＥＭ／ＥＤＳ）纳米薄标样通用规范 GBT 18735-2014.pdf

GB/T18735-2014前言本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本标准代替GB/T18735一2002分析电镜(AEM/EDS)纳米薄标样通用规范。本标准与GB/T18735一2002相比主要变化如下：中英文名称修改为：“微束分析分析电镜(AEM/EDS)纳米薄标样通用规范”和“Microbeamananlysis-General guide for the specification of nanometer thin reference materials for analytical transmission electron microscope(AEM/EDS);修改了适用范围的内容（见第1章）：更新和增加了引用标准（见第2章）：增加和修改了术语和定义，将公式和原理放在术语下面的注释中进行表述（见第3章）：将“标样”改为“薄标样”（见第4章、第5章）：修改了薄标样化学定值和薄标样个数的要求（见4.1、4.2）；增加了对薄标样的厚度要求的说明和计算例证的注释（见4.3）；增加了对薄标样稳定性要求的说明性注释（见4.4）：将“碳膜支持网”修改为“超薄碳膜支持网”（见4.5）：增加了“检测仪器”和“样品台”次级标题（见5.1、5.2）：将“试样”修改为“研究材料”（见5.1、5.2、5.3.4）：增加了分析时常用的几个典型工作电压值（见5.3.1）：修改了测量样品个数和待测元素X射线强度统计测量的要求（见5.3.3、5.3.5和5.3.8）；增加了比例因子测量时参考元素的说明性注释（见5.3.6）；修改和增加了比例因子KA-s的扩展不确定度和不确定度及相应的注释（见5.3.8和5.3.9）：修改了薄标样的判别依据（见5.4）；增加了标样的分级（见第6章）：增加了有助于理解本标准的必要的参考文献。本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/T38)提出并归口。本标准起草单位：武汉理工大学。本标准主要起草人：孙振亚。本标准于2002年12月首次发布，本次为第一次修订。