正电子发射断层扫描仪用锗酸铋闪烁晶体 GBT 39867-2021.pdf
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正电子发射断层扫描仪用锗酸铋闪烁晶体
GBT
39867-2021
正电子
发射
断层
扫描仪
用锗酸铋
闪烁
晶体
39867
2021
GB/T39867-20214产品编号由锗酸铋品体(BGO)、设备编号、制备年份、制备炉次及序号组成，见图1。BG)口口-口口口-口序号制备炉次制备年份设备编号锗酸铋晶体(BG()图1锗酸铋闪烁晶体的产品编号示例：BG()C05-1803-08表示采用编号为C05的设备于2018年制备的第03炉次中序号为08的BG()晶体。5技术要求5.1外观质量品体无色透明：无肉眼可见裂纹、晶界和散射颗粒。5.2光学透过率样品的光学透过率应大于75%(480nm处)。5.3光学透过率不均匀性晶体的光学透过率不均匀性应小于3%(480nm处)。5.4相对光输出样品的相对光输出应大于85%（辐射源为7Cs源）。5.5能量分辨率样品的能量分辨率应小于10.5%（辐射源为Cs源）。5.6辐照损伤样品的辐照损伤应小于10%（辐射源为Cs源）。5.7光输出不均匀性晶体的光输出不均匀性应小于5%（辐射源为Cs源）。6检验方法6.1外观质量采用目测法对品体的颜色、裂纹和品界等外观质量进行检验：在功率为50mW、波长为532m的2
