固体电介质微波复介电常数的测试方法 GBT 5597-1999.pdf

GB/T5597-1999前言本标准是对GB/T5597一1985固体电介质徽波复介电常数的测试方法的修订。本标准对原标准GB/T5597一1985做了如下修订：信号源由扫频信号源改为频综信号源，使测试系统大为简化；由于改窄带反射速调管扫频工作点，指示器用4专位管通数字电压表代替原采用的双综示被器，测试误差分析由原来采用各误差源的“贡献”绝对值求和改为方和根的误差综合，因而测试误差大幅下降，e/e由原来的1.5%降至1.0%，tan8.由原来15%tan8.+1.010-4降至3%tan6。+3.0X105;并将tan6,的测试范围下限由2X10改为1104。本标准自实施之日起同时代替GB/T5597一1985。本标准的附录A、附录B、附录C都是提示的附录。本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准起草单位：中国电子技术标准化研究所、电子科技大学。本标准主要起草人：张其劭、王玉功、李晓英。I中华人民共和国国家标准固体电介质微波复介电常数的GB/T5597-1999测试方法代替GB/T5597一1985Test method for complex permittivity of soliddielectric materials at microwave frequencies1范围本标准规定了均匀的、各向同性的固体电介质材料微波复介电常数的测试方法。本标准适用于频率范围为2GHz18GHz内复介电常数的测定。推荐测试频率为9.5GHz。其测定范围：相对介电常数实部e为220，介质电损耗角正切tan6。为110-4510-3。2定义复数介电常数为：e=6g=eo(e-je)4*(1)式中：E,一复数相对介电常数；e6一真空介电常数，其值为8.85410-12F/m。本标准所述及的复数介电常数实际上均指相对介电常数，并以相对介电常数的实部和介电损耗角正切tan8,=e/e表征之。3测试原理在一确定频率下圆柱型TE。模式高品质因数测试腔的谐振长度为l,固有品质因数为Q,如图1(a)所示。当此测试腔中放入厚度为d的盘状试样后，如图1(b)所示，将发生两方面的变化：(1)由于介质试样的介电带数大于1，因此填充有试样介质的那段波导的相位常数将增大，在原频率上产生谐振的腔体长度将缩短为1：(2)由于介质试样将引入附加的介质损耗，导致测试腔的固有品质因数下降为QooQ(a)(b)图1根据测试腔在放人介质试样前后，其谐振长度变化量S(S=。一，)和品质因数的改变量，可以分别推算出介质材料的介电常数e及介质电损耗角正切tan8e。国家质量技术监督局1999-05-19批准1999-12-01实施