半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理 GBT 15136-1994.pdf
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半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理
GBT
15136-1994
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15136
1994
GB/T15136-94入控制条件被测器竹定网络图14.1.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境温度；b.电源电压；c.定频网络；d,输入控制条件；e.负载电阻R。4.1.4测试程序4.1.4.1在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中。4.1.4.2接通规定的电源电压，各功能输入端施加规定的输入控制条件，使被测器件处于正常工作状态。4.1.4.3以电源电压为中心，分别向上调节和向下调节电源电压，通过双踪示波器观察驱动电机输出端上的波形周期、脉究、幅度均满足器件正常工作状态，此时被调节的电源电压的最大值和最小值即为电源电压范围VsR。4.2,电源电流Ipn4.2.1目的测试器件在输出端空载和额定电源电压条件下流经器件的电源电流。4.2.2测试原理图电源电流I的测试原理图如图2所示。
