通信用光电子器件可靠性试验方法 GBT 33768-2017.pdf

GB/T33768-2017通信用光电子器件可靠性试验方法1范围本标准规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的术语和定义、一般要求、详细要求，包括试验的目的、设备、条件、程序、检验及失效判据。本标准适用于通信用光电子器件，其他领域的光电子器件也可参照使用。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T19001质量管理体系要求GB/T21194通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求3术语和定义GB/T21194界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1光电子器件optoelectronic device具有光电特性的元件。注：包括但不限于激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及由它们组成的组件或模块，统称“光电子器件”。3.2试样specimen用作可靠性试验的光电子器件样品。3.3失效failure光电子器件达不到规定的光电参数和/或物理参数时，称为失效。3.4失效判据failure criterion判定光电子器件失效的依据。4一般要求4.1试验类型试验类型包括：符合性试验、机械完整性试验、环境试验和物理特性试验。4.2试验设备应定期维护和校准试验设备。试验设备的维护、校准和调控应符合GB/T19001的相关规定。