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DB44T
1905-2016
超高频射频识别RFID芯片测试方法
1905
2016
超高频
射频
识别
RFID
芯片
测试
方法
DB44/T1905-2016目次前宵】范。2规范性引用文件3术语和定义4符号和缩略语4.】符号4.2缩略语5概要025.】总体要求25.2测试环境353默认容限5.4木底噪声6测试平台436,1标签芯片测试平台6.2阅读器芯片测试平台37标签芯片测试4471标签芯片物理层测试7.2标签芯片协议层功能一致性测试8阅读器芯片测试8】阅读器芯片发射机主要性能参数测试82阅读器芯片接收机主要性能参数测试83阅读器芯片协议层功能一致性测试112