分享
硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 YST 1164-2016.pdf
下载文档
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,汇文网负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。
网站客服:3074922707
硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法 YST 1164-2016 材料 高纯 石英 制品 杂质 含量 测定 电感 耦合 等离子体 发射光谱 1164 2016
YS/T1164-2016前言本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本标准由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/T243)提出并归口。本标准起草单位:亚洲硅业(青海)有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、新特能源股份有限公司。本标准主要起草人:王体虎、魏东亮、蔡延国、宗冰、季静佳、陈英、张云晖、张园园、邱艳梅。

此文档下载收益归作者所有

下载文档
你可能关注的文档
收起
展开