光谱分析用钯基体 YST 83-2006.pdf
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光谱分析用钯基体
YST
83-2006
光谱分析
基体
83
2006
YS/T83-2006前言本标准是对YS/T83-1994光谱分析用钯基体的修订。本标准与YS/T83-1994相比，主要有如下变动：需要测定的杂质元素由原标准规定的12个增加到18个，新增加元素为Mn、Cr、Sn、Zn、Bi、Ru。对原标准的试验方法进行了细化。本标准自实施之日起，同时代替YS/T831994。本标准由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口。本标准由贵研铂业股份有限公司负责起草。本标准主要起草人：谭文进、石红、刘文、蹇祝明、赵飞。本标准由全国有色金属标准化技术委员会负责解释。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：YB1707-1978;YS/T 83-1994。
