微电子
器件
4.6 MOSFET 的小信号参数、高频等效电路及频率特性,4.6.1 MOSFET 的小信号交流参数,1、跨导 gm,跨导 代表转移特性曲线的斜率,它反映了栅源电压 VGS 对漏电流 ID 的控制能力,即反映了 MOSFET 的增益的大小。,非饱和区,饱和区,为了提高跨导 gms,从器件角度,应提高,即增大,提高迁移率,减小 TOX。从电路角度,应提高 VGS。,以 VGS 作为参变量的 gm VDS 特性曲线,2、漏源电导 gds,gds 是输出特性曲线的斜率,也是增量输出电阻 rds 的倒数。,非饱和区 当 VDS 很小时 饱和区,实际上,IDsat 随着 VDS 的增加而略微增大,使(gds)sat 略大于 0。降低(gds)sat 的措施与降低有效沟道长度调制效应的措施是一致的。,以 VGS 为参变量的 gds VDS 特性曲线,3、电压放大系数,在非饱和区,对 ID 求全微分并令其为零,,饱和区,实际上,因有效沟道长度调制效应等原因,S 为有限值。模拟电路中的 MOSFET 常工作在饱和区,希望 S 尽量大,故应尽量增大 gms,减小(gds)sat。,4.6.2 MOSFET 的小信号高频等效电路,1、一般推导,本征 MOSFET 的共源极小信号高频等效电路为,上图中各元件的值与工作点有关。模拟电路中的 MOSFET一般工作在饱和区,饱和区中各元件可由下式表示,2、饱和区小信号等效电路,为了反映 IDsat 随 VDS 增加而略有增大的实际情况,rds 应为有限值。于是可得饱和区的等效电路,fgm 称为 跨导的截止频率,代表当跨导 下降到低频值的 时的频率。,图中,,(4-126),为了提高 fgm,从器件制造角度,主要应缩短沟道长度 L,其次是应提高载流子迁移率,所以 N 沟道 MOSFET 的性能比 P 沟道 MOSFET 好;从器件使用角度,则应提高栅源电压 VGS。,4、寄生参数,加上寄生参数后的 MOSFET 饱和区等效电路,MOSFET 的寄生参数有源极串联电阻 RS、漏极串联电阻 RD、栅极与源、漏区的交迭电容 Cgs、Cgd 以及 Cds。,RS 为源体电阻与源电极接触电阻之和,它在共源极接法中起负反馈作用,使跨导 gm 降低,,RD 为漏体电阻与漏电极接触电阻之和,RS 与 RD 的存在会使 VDsat 增大,使 gds 减小,,硅栅自对准结构 可减小交迭部分,从而减小 Cgs 与 Cgd。,Cgs 与 Cgd 由金属栅与漏、源区的交迭部分构成,其中特别是 Cgd 将在漏与栅之间起负反馈作用,使增益降低。,4.6.3 最高工作频率和最高振荡频率,定义:使最大输出电流与输入电流相等,即最大电流增益 下降到 1 时的频率,称为 最高工作频率,记为 fT。,当输出端短路时,能够得到最大输出电流。,当输出端共轭匹配,即 RL=rds 时,能够得到最大输出功率。,定义:使最大功率增益 Kpmax下降到 1 时的频率,称为 最高振荡频率,记为 fM。,输入电流,式中,AV=vo/vgs,代表放大器的电压放大系数。由于 vgs 和 vo 的相位相反,故 AV 0。,(4-137),输出电流,(4-140),一般情况下,这时输入、输出电流分别成为:,当输出端短路时,vo=0,因此 AV=0,于是可得 MOSFET的高频小信号最大电流增益为,(4-142a),根据最高工作频率 fT 的定义,得,当忽略寄生电容 Cgs 和 Cgd 时,得本征最高工作频率为,(4-142a),(4-142b),提高最高工作频率 fT 的措施:缩短沟道长度 L,提高载流子迁移率,提高栅源电压 VGS。这些都与提高跨导的截止频率 fgm 的要求相同。,当输出端共轭匹配,并忽略寄生电容 Cgs 和 Cgd 时,,于是可得 MOSFET 的最大高频功率增益为,可见,即每倍频下降 6 分贝。,提高 fM 的主要措施是提高 fT,即缩短沟道长度 L,并提高rds,即降低有效沟道长度调制效应。,考虑到寄生参数后,Kpmax 和 fM 会比上式低一些。,根据最高振荡频率 fM 的定义,可得,4.6.4 沟道渡越时间,载流子从源区经沟道到达漏区所需的时间,称为 沟道渡越时间 t。,将式(4-60)的饱和区沟道电场分布,代入,得饱和区的沟道渡越时间为,与跨导的截止频率以及最高工作频率相比较,可得,