基于7nmNPU预布局的布图优化设计陈力颖1，2，高祥1，2，李勇3，徐微1，2（1.天津工业大学电子与信息工程学院，天津300387；2.天津工业大学天津市光电检测技术与系统重点实验室，天津300387；3.台州国晶智芯科技有限公司，浙江台州318014）摘要：为了解决7nm布图设计中直通寄存器在自动布局时不能均匀分布且高宽比相差较大、纵向绕线较多的问题，提出在布图阶段提前布局直通寄存器，并将宏单元放置在模块上下两端以避开直通寄存器密集位置的优化方法；并针对7nm工艺对宏单元位置的约束，通过工具命令语言（TCL）脚本修复宏单元在布图阶段引起的违例。结果表明：相较于摆放在四周的布图规划，优化后的布图规划中建立时间最差负违例（WNS）减少0.131ns，负违例总和（TNS）下降约80%，纵向拥塞从9.23%降至0.98%，功耗下降约500mW；优化布图后执行TCL脚本，宏单元引起的违例下降了288条，相较人工修复节约了90%以上的时间。关键词：直通寄存器；宏单元；布图规划；拥塞；7nm中图分类号：TN47文献标志码：A文章编号：员远苑员原园圆源载（圆园23）园5原园园75原06收稿日期：2022-01-26基金项目：天津市科技计划资助项目（18ZXCLGX0090）；天津市自然科学基金资助项目（18JCYBJC85400）通信作者：陈力颖（1976—），男，博士，副教授，主要研究方向为射频集成电路设计和数模混合集成电路设计。E-mail：nkchenliy@163.comFloorplanoptimizationdesignofpre-placementbasedon7nmNPUCHENLiying1，2，GAOXiang1，2，LIYong3，XUWei1，2（1.SchoolofElectronicsandInformationEngineering，TiangongUniversity，Tianjin300387，China；2.TianjinKeyLaboratoryofOptoelectronicDetectionTechnologyandSystem，TiangongUniversity，Tianjin300387，China；3.TaizhouNationalCrystalTechnologyCo.，Ltd.，Taizhou318014，ZhejiangProvince，China）Abstract：Inordertosolvetheproblemsofunevendistributionofthroughregistersintheautomaticlayout袁largeaspectratiodifferenceandmorelongitudinalwindinginthe7nmfloorplandesign,anoptimizationmethodisproposedtolayoutthethroughregistersinadvanceduringthefloorplanstageandplacemarcocellsattheupperandlowerendsofmoduletoavoidthedenselocationsofthroughregisters.Toaddresstheconstraintsofthe7nmprocessonthepositionofmacrocells,atoolcommandlanguage渊TCL冤scriptisusedtofixviolationscausedbymac...
