北京口腔医学2023年第31卷第1期BeijingJournalofStomatologyFebruary2023，Vol.31，No.1·64·影像学及光学技术应用于继发龋诊断的研究进展马平川孙小钦程磊陈宇韩琪【摘要】继发龋是充填修复最常见的并发症，临床上常用的检查无法早期诊断继发龋。可以用于诊断的激光荧光技术和定量光导荧光技术等新方法可以评价早期龋但还未应用于临床。其他技术如发光二极管技术、激光光热辐射技术测量-调制发光技术等还处于体外研究阶段。当前继发龋的临床诊断难度较高。本文对可用于继发龋的影像学与光学诊断技术进行综述，旨在为今后的无创临床诊断及研究提供一定帮助及启发。【关键词】继发龋；激光荧光技术；横断面显微照相【中图号】R781.1【文献标识码】A【DOI】10.20049/j.bjkqyx.1006-673X.2023.01.013继发龋通常由于充填材料发生断裂或聚合收缩，在充填体-牙界面产生微渗漏与菌斑滞留区所致[1]，是龋病充填治疗失败的最主要原因，比例可达40%~70%[2]。继发龋的早期诊断有重要的意义，但相比原发龋，继发龋的检测具有一定的难度[3]。原发龋尚可使用一些风险评估方法进行预测，但是继发龋并没有相关的参考[4]。目前临床常用视诊、探诊和影像学检查对可疑病变区牙体组织的颜色、脱矿程度、硬度等进行评估来诊断继发龋[5]。X线片对继发龋的诊断有一定局限，X线阻射性质的充填材料可产生阴影效应，影响医生对病变区的判断。组织学显微检查及激光共聚焦显微镜技术(confocallaserscanningmicroscope，CLSM)结合可以作为在体外诊断继发龋的金标准，但这些方法无法应用于临床。近年来也有新的技术出现，如激光荧光相关技术（laserfluorescence,LF）、发光二极管技术（LED）、激光光热辐射技术测量-调制发光法（photothermalradiometry-luminescence，PTR-LUM）及近红外成像技术（near-infraredimaging，NIR）等，为继发龋的检测及诊断提供新的思路。本文对可用于继发龋诊断的相关影像学与光学技术进行综述，旨在为继发龋无创临床诊断及研究提供一定帮助及启发。影像学检查方法1.X线牙合翼片除视诊探诊之外，牙合翼片(bitewingradiograph)是临床中最常用的继发龋检查方法[6]。牙合翼片能够完整展现牙体组织与充填体之间的密合情况及病变范围，而且能与对颌牙和邻牙对比判断是否龋坏。Neuhaus等[5]、Diniz等[3]与Lenzi等[7]的研究均说明牙合翼片的特异性较高，对诊断修复体邻接面与接近表面的继发龋均有较好表现，且可重复性较高。但牙合翼片的缺点是低敏感性[8]...
