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JJF
427-2004
带表千分尺检定规程
427
2004
千分尺
检定
规程
冠 暑 场中华人民共和国国家计量检定规程 J J G 4 2 7-2 创 月带表千分尺Mi c r o me t e r s w i t h G a u g e2 0 0 4 一0 3 一0 2 发布2 0 0 4 一 0 9 一0 2实施国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局发布J J G 4 2 7-2 0 0 4带表千分尺检定规程产。.O.O.O.O.。.O.。.O.0.V e r i f i c a t i o n R e g u l a t i o n o f J J G 4 2 7-2 0 0 4代替 J J G 4 2 7-1 9 8 6、.o.o.口.口.o.o.o.o.o.0.o.o.o.o.岁Mi c r o me t e r s wi t h Ga u g e 本规程经国家质量监督检验检疫总局于 2 0 0 4 年 0 3月 0 2日批准,并 白2 0 0 4 年0 9 月0 2 日 起执行。归 口单位:全国几何量工程参量计量技术委员会起草单位:黑龙江省计量检定测试院 哈尔滨市计量检定测试所 哈尔滨电机厂有限责任公司 吉林省计量科学研究院本规程委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释J J G 4 2 7-2 0 0 4本规程主要起草人:马荃 王利 褚云库 马钟焕 参加起草人:张蕴 冬(黑龙江省计量检定测试院)(哈尔滨市计量检定测试所)(哈尔滨电机厂有限责任公司)(吉林省计量科学研究院)(哈尔滨市计量检定测试所)J J G 4 2 7-2 0 0 4目录1 范围 (1)2 引用文献 ,一(1)3 概述 。,(1)4 计量性能要求 ,1 ,1 (1)4.1刻 线 宽 度及 宽 度 差 ,(1)4.2 微分筒锥面的端面与固定套管上毫米刻线的相对位置 ,(2)4.3 微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离 ,(2)4.4 带表千分尺两测量面的平面度和平行度 ,(2)4.5 带表千分尺的比较仪 ,(2)4.6 带表千分尺的测力及测力变化 一(2)4.7 带表千分尺的示值误差 ,(2)4.8 带表千分尺的重复性 (2)5 通用技术要求,一(2)5.1 外观 ,。,(2)5.2 各 部分 相 互 作 用 ,(2)6 计量器具控制 ,(3)6.1 检定项目 ,(3)6.2 检定条件 ,-,一(3)6.3 检定方法 .(3)6.4 检定结果处理 .4,一(5)6.5 检定周期 ,(5)附录 A 带表千分尺示值误差测量不确定度评定 ,(6)附录 B 检定证书和检定结果通知书内页格式 ,(9J J G 4 2 7-2 0 0 4带表千分尺检定规程范围 本规程适用于测量上限至 l 0 0 m m、分度值为 0.0 0 1 m m的带表千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。2 引用文献本规程引用下列文献:J J F 1 0 0 1-1 9 9 8 通用计量术语及定义J J F 1 0 5 9-1 9 9 9 测量不确定度评定与表示G B/T 1 2 1 6-1 9 8 5 外径千分尺J J F 1 0 9 4-2 0 0 2 测量仪器 特性评定J J G 3 9-1 9 9 0 机械式比 较仪检定规程使用本规程时,应注意使用上述引用文献的现行有效版本。3 概 述 带表千分尺(见图 1)是由机械式比较仪(以下简称比较仪)、尺架和测微头等部分组成的一种千分尺。它主要用于外尺寸的比较测量。带表千分尺的测量范围一般分为(0 一2 5)m m,(2 5 一5 0)m m,(5 0 一 7 5)m m和(7 5-1 0 0)m m四种。比 较仪分 度值为0.0 0 1 m m,示值范围 一般为t 0.0 3 m m和士 0.0 5 m m两种。图 1 带表千分尺 1 一尺架;2-测砧;3-测微螺杆;4-锁紧装置;5 一固定套管;6 一微分筒;7-隔热装置;8 一比较仪4 计f性能要求4.1 刻线宽度及宽度差 固定套管上的纵刻线和微分筒上的刻线宽度为(0.1 5-0.2 0)m m,刻线宽度差不超过0.0 3 m m od J G 4 2 7-2 0 0 44.2 微分筒锥面的端面与固定套管上毫米刻线的相对位置 当测量下限调整正确后,微分筒的零刻线与固定套管纵刻线对准时,端面与固定套管刻线的右边缘应相切;若不相切,压线不超过 0.0 5 m m,O.l mmo4.3 微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离 微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离不超过 0.4 m m o4.4 带表千分尺两测量面的平面度和平行度 两测量面的平面度和平行度不超过表 1 的规定。表 1 带表千分 尺两测f面的平面度和平行度微分筒锥面 的 离线 不超 过钡 1 量范围/m m测量面平面度/k m两测量面平行度/I m02 52 5 5 00.625 0 7 57 51 0 00.634.5 带表千分尺的比较仪 应符合 J J G 3 9-1 9 9 0 机械式比较仪检定规程中分度值为 0.0 0 1 m m,夹持部位的直径为 0 8 m m的技术要求。4.6 带表千分尺的测力及测力变化 测力(是指测砧与球面接触时所作用的力)为(2 一 5)N o测力变化不超过 1 N o4.7 带表千分尺的示值误差 最大允许误差不超过士 3 1 e m o4.8 带表千分尺的重复性 重复性不超过0.1 3 p m o5 通用技 术要求5.1 外观5.1.1 首次检定的带表千分尺不应有碰伤、锈蚀、划痕等外观缺陷,表盘及测微头上的刻线应清晰、平直、均匀,无断线,表盘玻璃应完整透明。5.1.2 带表千分尺上应 标有编号、测力范围、厂 标和迁 鱼 标志。5.1.3 后续检定和使用中检验的带表千分尺允许有不影响使用准确度的外观缺陷。5.2 各部分相互作用5.2.1 微分筒在工作行程内往返转动时应灵活、平稳,无卡滞和摩擦现象,无手感觉到的径向摆动和轴向窜动,测微头锁紧装置的作用应可靠。5.2.2 比较仪的指针转动应平稳无跳动。J J G 4 2 7-2 0 0 4 计t器具控制 计量器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检验。6.1 检定项目 检定项目见表 2 0 表2 检定项目和主要检定器具一览表序号检定项 目检定器具检定类别首次检定后续检定使用 中检 验1外观十+2各部分相互作用十十十3刻线宽度及宽度差工具显微镜示值误差:(1+L 1 1 0 0)K m+4微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置十5微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离2级塞尺或工具显微镜+6带表千分尺两测量面的平面度和平行度2 级平面平晶、平行平晶、1 级量块十十7带表千分尺的比较仪见 J J G 3 9-1 9 9 0+8测力 及测力变化量仪测力仪:2.5级十9示值误 差4等量块+十十1 0重复性专用工 具+注:表中“+”表示应检定,“一”表示可以不检定。6.2 检定条件6.2.1 检定环境条件 检定带表千分尺的检定室内温度为(2 0 士 3)9 C,带表千分尺和检定用工具在检定室内等温时间不少于 2 h,6.2.2 检定用设备 主要检定器具见表 2 06.3 检定方法6.3.1 外 观 目力观察。6.3.2 各部 分相互作 用J J G 4 2 7-2 0 0 4 目力观察和试验。6.3.3 刻线宽度及宽度差 在工具显微镜上检定。微分筒和固定套管上至少各均匀分布地抽检3 条刻线。刻线宽度差以最大值和最小值之差确定。6.3.4 微分筒锥面的端面与固定套管刻线的相对位置 首先将带表千分尺测量下限调整正确,然后使微分筒锥面的端面与固定套管任意毫米刻线的右边缘相切,此时读取微分筒的零刻线与固定套管纵刻线的偏移量即为离、压线值。6.3.5 微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离 在 工具显微镜上进行检定。也可以 用厚度为0.4 m m的2 级塞尺用比 较法进行检定,检定时应在微分筒转动一周 内不少于三个位置上进行。6.3.6 带表千分尺两测量面的平面度和平行度 两测量面的平面度用 2 级平晶以技术光波干涉法进行检定。距边缘 0.2 m m处允许有塌边。两测量面的平行度用平行平晶检定时,依次将四块平行平晶放人两测量面间,转动微分筒,使两测量面与平行平晶接触后锁紧测微螺杆,读出两测量面上出现的白光干涉条纹数。以四块平晶中出现的干涉条纹最多的一次数值作为带表千分尺两测量面的平行度。两测量面平行度用量块检定时,依次用尺寸约为上下限的中间尺寸,其间隔为微分筒 1/4 转的四组量块进行。每组量块以同一部位按图 2 所示的四个及中间共五个位置放入两测量面间。检定时,首先将量块夹持在测量面中心位置对零位后,锁紧测微螺杆,顺次在比较仪上读取同一尺寸量块在测量面间五个位置上的示值,并求出其差值。取四组读数差中的最大值作为带表千分尺两测量面的平行度。仲裁检定时,以平行平晶检定方法为准。6.3.7 比较仪 按 J J G 3 9-1 9 9 0 机械式比较仪检定规程进行。6.3.8 测力及测力变化 用量仪测力仪的球工作面与带表千分尺工作面相接触后进行检定。回 图 26.3.9 示值误差图 3用 4 等量块在测微头 2 5 m m行程范围内均匀分布的五个位置上进行检定。所用量块工 r G 4 2 7-2 0 0 4尺寸如下:(A+5.1 2)m m,(A+1 0.2 4)m m,(A+1 5.3 6)m m,(A+2 1.5)m m,(A+2 5)m m尺寸。其中 A为带表千分尺的下限值。检定时,先用下限尺寸量块调整好零位,然后转动微分筒,使测微头上的示值分别处于各受检点上,锁紧测微螺杆后,将相应尺寸的量块放人两测量面间,在比 较仪上读出各点的示值误差。每一点都要拨动拨叉 5 次,取其平均值作为该点的示值误差。各点示值误差。均不超过规定数值。二 乙 一 乙。(1)式中:L 代表千分尺的读数值;L a 量块的实际尺寸。6.3.1 0 重复性 转动微分筒使两测量面接触,并使比较仪的指针分别处于零位和正负最大刻度值附近,紧固测微螺杆,拨动拨叉五次,取其中最大与最小读数差除以极差系数 d o(d o=2.3 3)求得实验标准差:作为带表千分尺的重复性。检定测量上限为(5 0 一 1 0 0)m m的带表千分尺时,可借助于延长杆进行检定(如图3)。6.4 检定结果处理 经检定符合本规程要求的带表千分尺发给检定证书;不符合本规程要求的发给检定结果通知书,并注明不合格项 目。6.5 检定周期 带表千分尺的检定周期可根据使用的实际情况确定,一般不超过 1 年。J J G 4 2 7-2 0 0 4附 录 A带表千分尺示值误差测t不确定度评定A.l 测量方法 依据本规程,带表千分尺的示值误差是用 4等量块在其规定的 5 个位置上进行检定。现对测量范围为(7 5 一1 0 0)m m,分度值为 0.0 0 1 m m的带表千分尺,在 2 3 条件下,取检定点为 l 0 0 m m为例,进行测量不确定度评定。A.2 数学模型 示值误差 e:。=L a+L。一 L,(A.1)式中:L o 带表千分尺微分筒读数值;L,带表千分尺比较仪读数值;L,检定用量块的实际 尺寸。A.3 方差和灵敏系 数 灵敏 系数:价一8L8ae一呱ae一aLo由于各输人分量彼此独立,依据方差公式:得A.4 不确定度一览表:Z 二1 0 0 mm u (Y)u 2(。)二_令(a f I一!-L d x;u 2(xu 2(L e)+u 2(L b)+u 2(L,(A.2)标准不确定度分量 u(x)不确定度来源标准不确定度值 u(二)/P M。二o f a x。,1 u(x,)/P M自由度u(L,)重复性0.1 4 310.1 4 39u(L,)比较仪示值误差0.2 8 910.2 8 95 0u(L,)量块0.3 7 2一 10.3 7 22 21 0 0u(L,)对零位量块0.1 3 01 0 0u(L )检定用量块0.1 4 85 0u(L,)带表千分尺与量块线胀系数差0.2 4 52u(L,)带表千分尺与量块温差0.1 9 9u。二 0.4 9 1,m v 二 5 4