第３７卷第４期黑龙江工程学院学报Ｖｏｌ．３７Ｎｏ．４２０２３年８月ＪｏｕｒｎａｌｏｆＨｅｉｌｏｎｇｊｉａｎｇＩｎｓｔｉｔｕｔｅｏｆＴｅｃｈｎｏｌｏｇｙＡｕｇ．２０２３ＤＯＩ：１０．１９３５２／ｊ．ｃｎｋｉ．ｉｓｓｎ１６７１－４６７９．２０２３．０４．００４基于粒子群算法的数字集成电路时序测试方法贾冕茜（芜湖职业技术学院电气与自动化学院，安徽芜湖２４１００６）摘要：数字集成电路技术随着科学技术的发展逐渐进步，数字集成电路时序测试是数字集成电路控制的重要部分，传统的数字集成电路时序测试方法的测试生成时间较长，无法满足目前的应用需求，因此，研究了基于粒子群算法的数字集成电路时序测试方法。生成数字集成电路时序测试评价指标，构建数字集成电路时序测试模型，基于粒子群算法进行时序电路初始化处理，从而实现数字集成电路时序测试。实验结果表明，设计的数字集成电路时序测试方法的测试生成时间较短，测试效率较高，具有一定的应用价值。关键词：粒子群算法；数字集成电路；时序测试；测试模型中图分类号：ＴＮ４０７文献标识码：Ａ文章编号：１６７１－４６７９（２０２３）０４－００２０－０５ＴｉｍｉｎｇｔｅｓｔｍｅｔｈｏｄｏｆｄｉｇｉｔａｌｉｎｔｅｇｒａｔｅｄｃｉｒｃｕｉｔｓｂａｓｅｄｏｎＰａｒｔｉｃｌｅＳｗａｒｍＯｐｔｉｍｉｚａｔｉｏｎａｌｇｏｒｉｔｈｍＪＩＡＭｉａｎｑｉａｎ（ＳｃｈｏｏｌｏｆＥｌｅｃｔｒｉｃａｌａｎｄＡｕｔｏｍａｔｉｏｎ，ＷｕｈｕＩｎｓｔｉｔｕｔｅｏｆＴｅｃｈｎｏｌｏｇｙ，Ｗｕｈｕ２４１００６，Ｃｈｉｎａ）Ａｂｓｔｒａｃｔ：Ｗｉｔｈｔｈｅｄｅｖｅｌｏｐｍｅｎｔｏｆｓｃｉｅｎｃｅａｎｄｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ，ｄｉｇｉｔａｌＩＣｔｉｍｉｎｇｔｅｓｔｉｓａｎｉｍｐｏｒｔａｎｔｐａｒｔｏｆＤｉｇｉｔａｌＩＣｃｏｎｔｒｏｌ．ＴｈｅｔｅｓｔｇｅｎｅｒａｔｉｏｎｔｉｍｅｏｆｔｒａｄｉｔｉｏｎａｌｄｉｇｉｔａｌＩＣｔｉｍｉｎｇｔｅｓｔｍｅｔｈｏｄｓｉｓｌｏｎｇａｎｄｃａｎｎｏｔｍｅｅｔｔｈｅｃｕｒｒｅｎｔａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｒｅｑｕｉｒｅｍｅｎｔｓ．Ｔｈｅｒｅｆｏｒｅ，ｔｈｅｄｉｇｉｔａｌＩＣｔｉｍｉｎｇｔｅｓｔｍｅｔｈｏｄｂａｓｅｄｏｎｐａｒｔｉｃｌｅｓｗａｒｍｏｐｔｉｍｉｚａｔｉｏｎａｌｇｏｒｉｔｈｍｉｓｓｔｕｄｉｅｄ．Ｔｈｅｔｉｍｉｎｇｔｅｓｔｅｖａｌｕａｔｉｏｎｉｎｄｅｘｏｆｄｉｇｉｔａｌ...
