温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,汇文网负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。
网站客服:3074922707
GBT
22092-2018
电子数显测微头和深度千分尺
22092
2018
电子
数显测微头
深度
千分尺
GB/T22092-2018前言本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本标准代替GB/T22092一2008电子数显测微头和深度千分尺。本标准与GB/T22092一2008相比,除编辑性修改外,主要技术变化如下:扩大电子数显测微头和深度千分尺的量程到50mm(见第1章、4.2.2,2008年版的第1章、4.2.2)修改了电子数显千分尺数显装置的定义(见3.1,2008年版的3.1):增加了电子数显测微头和电子数显深度千分尺的定义(见3.2、3.3):增加了测微螺杆螺距为2mm的电子数显测微头和深度千分尺(见4.2.1);修改了对锁紧变化的要求(见5.5,2008年版的第1章):增加了对电子数显深度千分尺测量面平行度的要求和检验(见5.8.5、6.1.4):增加了量程等于50mm的电子数显测微头及其示值最大允许误差的要求(见5.11.1):修改了示值最大允许误差的规定值(见5.11和表1,2008年版的5.11和表1);删除了附录A,把附录A的内容放到正文里(见5.11、表2,2008年版的附录A):增加了对电子数显深度千分尺校对柱的要求(见5.13):修改了分度误差检验方法的注2(见6.3.1,2008年版的6.3.1):修改了示值误差的检验方法(见6.4.2,2008年版的6.4.2):增加了示值误差检验方法的B组尺寸系列检验量块(见6.4.2和表2,2008年版的6.4.2):增加了量程等于50mm的电子数显测微头的示值误差检验量块(见6.4.2和表2):删除了对角度传感器等分数的规定(见2008年版的5.10.3).本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/T132)归口。本标准负责起草单位:苏州麦克龙测量技术有限公司本标准参加起草单位:成都工具研究所有限公司、桂林量具刃具有限责任公司、成都成量工具集团有限公司、哈尔滨量具刃具集团有限责任公司、桂林广陆数字测控有限公司、东莞市特马电子有限公司、广西壮族自治区计量检测研究院、辽宁省计量科学研究院。本标准主要起草人:黄晓宾、王荣华、许刚、赵伟荣,李荣农、周萍、同列雪、王昭进、王智慧、姚兴宇。本标准所代替标准的历次版本发布情况为:GB/T22092-2008.GB/T22092-20185要求5.1外观5.1.1电子数显测微头和电子数显深度千分尺表面不得有影响外观和使用性能的裂痕、划伤、碰伤、锈蚀、毛刺等缺陷。5.1.2电子数显测微头和电子数显深度千分尺表面的镀、涂层不得有脱落和影响外观的色泽不均等缺陷。5.1.3电子数显装置的数字显示屏应透明、清洁,无划痕、气泡等影响读数的缺陷。5.2材料5.2.1电子数显深度千分尺底板应选择合金工具钢、不锈钢或其他类似性能的材料制造。5.2.2测微螺杆和测量杆应选择合金工具钢、不锈钢或其他类似性能的材料制造:测量面宜镶硬质合金或其他耐磨材料。5.3相互作用5.3.1测微螺杆和螺母之间在全量程范围内应充分啮合,配合良好,不应出现卡滞和明显的轴向窜动。5.3.2测微螺杆伸出的光滑圆柱部分与轴套之间的配合应良好,不应出现明显的径向摆动。5.4测力装置电子数显测微头和电子数显深度千分尺宜具有测力装置。通过测力装置作用到测量面的测量力应在4N10N之间,测量力变化应不大于2N。5.5锁紧装置电子数显测徽头和电子数显深度千分尺宜有锁紧装置。锁紧装置应能有效地锁紧测微螺杆,锁紧前、后,两测量面间的距离变化不应大于2m(在锁紧部位测微螺杆有刚性支撑)或3am(在锁紧部位测微螺杆无刚性支撑)。5.6底板电子数显深度千分尺底板的长度宜为50mm或100mm。5.7测量杆电子数显深度千分尺相邻测量杆之间的长度差等于量程,应成套检测。更换测量杆后的“零”值误差不应大于表1的规定。表1示值最大允许误差、平行度公差和“零”值误差测量范围示值最大允许误差平行度公差“零”值误差mm杜m0125452515055士250l10066土3