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GBT 14447-1993 塑料薄膜静电性测试方法 半衰期法.pdf
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GBT 14447-1993 塑料薄膜静电性测试方法 半衰期法 14447 1993 塑料薄膜 静电 测试 方法 半衰期
中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准塑 料 薄 膜 静 电 性 测试 方 法 半 衰 期 法G a/T 1 4 4 4 7 一 9 3T e s t m e t h o d f o r e l e c t r o s t a t i c p r o p e r t i e s o f p l a s t i c f i l m s-Ha l f-l i f e me t h o d1 主题内容与适用范围本标准规定了在实验室条件下,以电晕放电形式使塑料薄膜带电后,其静电半衰期(以下简称“半衰期”)的测试方法。本标准适用于塑料薄膜,其他绝缘材料制成的薄膜也可参照采用。2 I 用标准G B 2 9 1 8 塑料试样状态调节和试验的标准环境3 术语及符号3.1 静电电压 e l e c t r o s t a t i c v o l t a g e 试样受某种外界作用后,其上积累的相对稳定的电荷所产生的对地电压,以U表示。3.2 静电电 场强 度 e l e c t r o s t a t i c f ie l d in t e n s it y 试样受某种外界作用后,其上积累的相对稳定的电荷所产生的静电电场强度,以E表示13静电 峰 值电 压 e le c t r o s t a t ic p e a k v o l t a g e 试样受某种外界作用后,所产生的最大静电电压,以U。表示。3.4 静电峰值电 场强度 e l e c t r o s t a t i c p e a k f i e l d i n t e n s i t y 试样受某种外界作用后,所产生的最大静电电场强度,以E。表示。3.5 半衰期 h a l f-l i f e 当外界作用撤除后,试样静电电压(或静电电场强度)衰减至峰值的一半时所需的时间,3.6 剩余静电电压 r e s i d u a l e l e c t r o s t a t i c v o l t a g e 当外界作用撤除后,作为时间函数而存在的静电电压。如:U,o o 0(1 0 0 0 s 后),U,o o a(2 0 0 0 s 后)3.7 剩 余静电电 场强 度 r e s id u a l e le c t r o s t a t ic f ie ld i n t e n s i t y 当外界作用撤除后,作为时间函数而存在的静电电场强度。如:E,-(1 0 0 0 s 后),E 2 0 0 0(2 0 0 0 s 后)以t=表示。4 测试原理 在规定的测试条件下,对放电电极施加高电压,以电晕放电形式使试样带电,在停止施加高电压后试样接地自然衰减,测试试样半衰期以评价试样带电后的电荷泄漏性能国家技术监督局 1 9 9 3 一 0 6 一 1 4批准1 9 9 3 一 1 2 一 0 1 实施G B/T 1 4 4 4 7 一9 35 试样及制备5.1 试祥应平整、清洁,应使用洁净的镊子或戴着洁净的手套拿取试样。不可用手指触摸试样的待测表面。5.2 均匀裁取试样 5 片。如果试样正反面的表面静电性不同,应分别进行测试,此时各取试样5 片。6 试样状态调节及测试的标准环境 试样在G B 2 9 1 8 规定的正常偏差的标准环境下进行状态调节至少 2 4 h,试样待测表面暴露在此环境下,并在同样环境下进行测试了 测试装置 测试装置如下图。7.17.4 测试装置示意图 1 一 高压发生器;2 一放电电极邓一 试样夹具;4-静电传感器;5 一静电计;6-静电一 时间记录仪高压发生器能提供一1 0 k V的电压。放电电极用于电晕放电。试样夹具夹具由金属材料制成,应能平整地夹住试样。静电传感器能无接触地测量静电电压(或静电电场强度)。静电计静电电压计量程。-1 0 k V(或静电场强计量程。2 0 0 k V/m),用于显示静电电压(或静电电场强7273J、不度7.6 静电一 时间记录仪 用于记录静电电压(或静电电场强度)一 时间关系。8 测试步骤8.1 把试样装入夹具内,夹好后的试样应平整,无破裂,无皱折。8.2 对放电电极施加一t o k V的高电压,当试样达到静电峰值电压U o(或静电峰值电场强度E,)时,停G B/T 1 4 4 4 7 一 9 3止 施加 高电 压,记 录并 测 定 试样的 半 衰 期t 1:.:根据实际需要可测剩余静电电压(或剩余静电电场强度)。每片试样仅可测一次。结果的取值及表示 取5 个试祥的半衰期的算术平均值作为测试结果,并报出最大值和最小值。半衰期以5 为单位,取两位有效数字。1 0 测试报告 测试报告应包括下列内容:国家标准号;试样的名称、种类和生产日 期等说明;么阮 试样待测表面的有效尺寸,以m m为单位;测试装置;半衰期传,根据实际情况所需的静电峰值电压U o(或静电峰值电场强度E o)和剩余静电电压(或剩余静电电场强度);9.实际状态调节和测试的环境;h.测试人员和测试日 期;1.与本标准不一致或本标准未规定的情况说明。附加说明:本标准由中国包装总公司提出并归口。本标准由国家包装产品质量监督检验中心(济南)和山东省滕州市塑料复合彩印厂共同起草本标准主要起草人宋亚光、周长琴、张承志、徐连水、金衍椿。本标准参照采用D I N 5 3 4 8 6 绝缘材料静电性测试方法。

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