第57卷第7期2023年7月电力电子技术PowerElectronicsVol.57,No.7July2023IGBT小电流开通失效研究及结构改进周东海童颜〃,陈英毅〃,刘建3(1?南瑞集团(国网电力科学研究院)有限公司,江苏南京211106;2.南瑞联研半导体有限责任公司,江苏南京211100;3.国网江苏电力有限公司电力科学研宄院,江苏南京211100)摘要:对绝缘栅双极型晶体管(IGBT)在小电流开关测试失效进行了分析研宄,对IGBT栅极和集电极的电压电流波形监测发现,IGBT在小电流开通时电压电流波形存在严重的振荡问题,电压幅值超过器件最大额定值,导致器件失效。分析了IGBT芯片电容和栅极电阻对小电流开通振荡的影响,通过对IGBT芯片结构进行改进,将小电流振荡抑制在安全值范围内,解决了IGBT小电流开通失效问题,改进后的IGBT器件性能参数和应用测试温升接近国外竞品。关键词:绝缘栅双极型晶体管;开通失效;结构改进中图分类号:TN3文献标识码:A文章编号:1000-100X(2023)07-0134-03ResearchonIGBTTurnonFailureatSmallCurrentandStructureImprovementZHOUDong-hai12,TONGYan12,CHENYing-yi12,LIUJian3(l.NariGroup{StateGridElectricPowerResearchInstitute)Co.,Ltd.,Nanjing211106,China)Abstract:Thefailureofinsulatedgatebipolartranslator(IGBT)switchingtestatsmallcurrentisanalyzedandstud?ied.BymonitoringthevoltageandcurrentwaveformofIGBTgateandcollector,aseriousoscillationproblemofIGBTvolts^eandcurrentwavefo...