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硅砖定量相分析
X射线衍射法
YBT
172-2000
硅砖
定量
分析
射线
衍射
172
2000
中华人民共和国黑色治金行业标准硅砖定量相分析X射线衍射法YB/T172-2000Phase quantitative analysis of silica bricks-X-ray diffraction method1范围本标准规定了硅砖X射线定量相分析的定义、原理、仪器设备、标样、试样制备、定址分析、试验报告。本标准适用于硅砖中麟石英、方石英及残余石英的定量分析。2引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。JJG/T629一1989国家计量检定规程多晶X射线衍射仪3定义本标准采用下列定义,3.1X射线强度X-ray intensityX射线衍射分析中的强度系指扣除背景后衍射峰的积分强度,也可用衍射峰的面积来表示。3.2分析线analysis lines需要对其强度进行测量并据此判定蔽分析物相含量的特征谱线。3.3同素异形体polymorph组成相同而结构不同的矿物,如鳞石英,方石英、-石英的组成均为SiO2,但结构各不相同。3.4择优取向preferred orientation非金属材料由于试样粒度粗或压制试样时用力过大等使某一衍射面的衍射强度反常而增大。4原理及计算公式对多相混合试样进行X射线衍射测量时,待测相的X射线衍射强度与该相在试样中的含量成正比,与多相混合试样的质量吸收系数成反比。硅砖中鳞石英、方石英及残余石英均为二氧化硅的同素异形体,采用外标法简便易行,可用微机直接进行数据处理。如果没有计算软件可按下列公式计算:Ix(m)wx=。.m。100式中:Wx一试样中待测相的重量百分数,%:Ix一一试样中待测相的分析线的衍射强度;(Ix)。一待测标样分析线的衍射强度:国家冶金工业局2000-07-26批准2000-12-01实施1