晶片正面系列字母数字标志规范 YST 986-2014.pdf
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晶片正面系列字母数字标志规范
YST
986-2014
晶片
正面
系列
字母
数字
标志
规范
986
2014
YS/T986-2014前言本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本标准使用翻译法等同采用SEMI M12-0706品片正面系列字母数字标志规范。本标准由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口。本标准起草单位：有研半导体材料股份有限公司、杭州海纳半导体有限公司、万向硅峰电子股份有限公司、折江金瑞泓科技股份有限公司。本标准主要起草人：张静、边永智、孙燕、鲁进军、楼春兰、王飞尧、何良恩、张海英。I
