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光谱分析用铑基体 YST 85-2006.pdf
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光谱分析用铑基体 YST 85-2006 光谱分析 基体 85 2006
YS/T85-2006光谱分析用铑基体1范围本标准规定了光谱分析用能基体的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存。本标准适用于光谱分析纯度为99.9%99.99%的铑时所用铑基体。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括恸误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其量新版本适用于本标准。GB/T1419一2004海绵铂GB/T1421一2004老粉3要求3.1化学成分3.1.1铑基体的化学成分应符合表1的规定。表1化学成分%牌号SM-Rh99.999铑含量不小于99.999Pt0.00002Pd0.00002Ir0.0001Ru0.0001化Au0.00005学杂Ag0.00002成质含Cu0.00002分量Fe0.00002质i0.00002量不Al0.0001分Pb0.00005数Sn0.00005Mg0.00002Si0.0001Mn0.00003Zn0.0001杂质总量不大于0.001注:本表中未规定的元素和挥发物的允许量及分析方法,由供需双方共同协商确定。YS/T85-20063.1.2铑的含量为100%诚去表1中杂质元素实测总和的余量。3.2外观铑基体为灰色粉末状金属,无目视可见的夹杂物。4试验方法4.1佬基体的化学成分分析方法:硅、镁、铝杂质元素分析按GB/T1419一2004中附录B的规定进行。其余杂质元素化学成分分析按如下进行,将产品按GB/T1421一2004附录A的规定配制成标准试样后摄谱。以扣除背景后分析线对相对强度的对数1gR为纵坐标,杂质元素含量的对数1gC为横坐标制作工作曲线。除硅、镁、铝外,其余杂质元素工作曲线的下部若不向上弯曲,产品中杂质元素的含量符合本标准的规定。4.2铑基体中夹杂物采用目视检查。5检验规则5.1检查和验收5.1.1铑基体应由供方技术监督部门进行检验,保证产品质量符合本标准(或订货合同)的规定,并填写质量证明书。5.1.2需方应对收到的产品按本标准的规定进行复验。如复验结果与本标准(或订货合同)的规定不符时,应在收到产品之日起1个月内向供方提出,由供需双方协商解决。如需仲裁,仲裁取样在需方共同进行。5.2组批老基体应成批提交验收,每批应由同一牌号组成。5.3检验项目每批产品应进行化学成分、外观质量的检险。5.4取样5.4.1化学成分检验的取样:从一批产品中任取3份占总量1%左右的样品,最少不低于1g,混匀后,以四分法缩分至试样所需数量。5.4.2外观质量逐件检查。5.5检验结果判定5.5.1化学成分分析结果与本标准规定不符时,判该批不合格。5.5.2外观质量与本标准规定不符时,判该件不合格。6标志、包装、运输、贮存6.1标志在检险合格的产品上注明:a)供方名称;b)产品名称、牌号、规格、批号:c)产品净重、毛重:d)生产日期。6.2包装、运输、贮存6.2.1包装产品装人带有内、外盖的塑料瓶中,严密封口,放入箱中进行中包装或外包装。包装单位(g/瓶):5,10,25,50,100,250,500,1000。2

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