无损检测 工业计算机层析成像(CT)检测用密度分辨力测试卡 GBT 35386-2017.pdf

GB/T35386-2017无损检测工业计算机层析成像(CT)检测用密度分辨力测试卡1范围本标准规定了能量大于225kV的工业计算机层析成像(CT)检测用密度分辨力测试卡的分类、技术要求和检验方法。本标准适用于密度分辨力测试卡的型式检验和出厂检验。本标准也可作为用户订货的金收依据。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T12604.12无损检测术语工业计算机层析成像(CT)检测GB/T2906?无损检测工业计算机层析成像(CT)图像测量方法GB/T29069无损检测工业计算机层析成像(CT)系统性能测试方法3术语和定义GB/T12604.12界定的术语和定义适用于本文件。4分类、型式和标识4.1分类4.1.1本标准所适用的密度分辨力测试卡可按如下方式分类。4.1.2按结构形式不同可分为：)空气间隙卡，分为两种：1)单空气间隙卡：2)多空气间隙卡。b)固体密度差试件，c)液体密度差试件；d)圆盘卡。4.1.3按材料不同可分为：a)钢质密度分辨力测试卡，代号用FE表示；b)铝质密度分辨力测试卡，代号用AL表示：)钛质密度分辨力测试卡，代号用TI表示：)其他金属质密度分辨力测试卡，代号用英文名称简写表示。1