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无损检测
术语
磁记忆检测
GBT
12604.10-2011
无损
检测
记忆
12604.10
2011
GB/T12604.10-2011前言本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本标准由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)归口。本标准起草单位:爱德森(厦门)电子有限公司、中国特种设备检测研究院、北京航空材料研究院、北京航空航天大学、华北电力科学研究院、装甲兵工程学院、上海泰司检测科技有限公司。本标准主要起草人:林俊明、陈钢、徐可北、沈功田、雷银照、胡先龙、董世运、胡斌。I