识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备 GBT 17554.3-2006.pdf

GB/T17554.3-2006识别卡测试方法第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备1范围本部分定义了带触点的集成电路卡及其相关接口设备特性的测试方法，该方法与GB/T16649给出的定义相适应。每一测试方法交叉引用一个或多个基础标准，这些基础标准可以是GB/T14916,也可以是一个或多个定义了应用在识别卡应用的信息存储技术的补充标准，注：接收标淮不包含在本部分中，而是在以上提及的国家标准中。本部分只定义了带触点的集成电路卡及其相关接口设备特性的测试方法；GB/T17554.1定义了为一种或多种卡技术所共用的测试方法：其他部分则定义了各个专项技术的测试方法。本部分中描述的若干测试方法可单独进行。规定的卡不要求顺序地通过所有测试。本部分中规定的测试方法基于GB/T16649中的定义，采用本部分中描述的测试方法确认合格的集成电路卡(ICC)和接口设备(IFD),不排除在实际使用时出现失效。本部分不包含可靠性测试的内容。2规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T17554的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T14916一2006识别卡物理特性(1S0/1TEC7810:1995,IDT)GB/T16649.1一2006识别卡带触点的集成电路卡第1部分：物理特性(1S0/IEC7816-1:1998,MOD)GB/T16649.2一2006识别卡带触点的集成电路卡第2部分：触点的尺寸和位置(ISO/IEC7816-2:1999,1DT)GB/T16649.3一2006识别卡带触点的集成电路卡第3部分：电信号和传输协议(1SO/IEC7816-3:1997,1DT)GB/T17554.1一2006识别卡测试方法第1部分：一般特性测试(1S0/1EC10373-1:1998,MOD)GJB548A一1996微电子器件实验方法和程序方法3015静电放电灵敏度的分类ISO/IEC7816-4:1995识别卡带触点的集成电路卡第4部分：交换命令3术语和定义下列术语和定义适用于本部分。3.1测试方法test method为了证实识别卡和相关接口设备符合若干标准而对其特性进行测试的方法。3.2可测试功能testably functional经受了某些可能的破坏性作用后，仍有以下功能：