微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 GBT 20724-2021.pdf

GB/T20724-2021前言本文件按照GB/T1.1一2020标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则的规定起草。本文件代替GB/T20724一2006薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法，与GB/T20724一2006相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下：)增加了部分术语和定义（见第3章）：b)增加了仪器准备要求（见7.1）：c)更改了用TEM模式进行实验测定的步骤（见7.2.1,2006年版的7.2）：d)增加了选区电子行射花样及其指数标定的示例图（见72.1图2）：e)增加了获取会聚束衍射花样的STEM模式（见7.2.2）；D更改了数据测量与计算的方法（见7.3,2006年版的7.6）：g)更改了用线性拟合法求薄晶体厚度的方法（见7.3.3、7.3.4,2006年版的第8章）：h)删除了实验报告格式的要求（见2006年版的第9章）：)增加了不确定度分析（见第8章）：j)更改了实验报告内容的要求（见第9章，2006年版的第9章）。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。本文件起草单位：北京科技大学、中国航发北京航空材料研究院。本文件主要起草人：柳得橹、娄艳芝。本文件于2006年首次发布为GB/T20724一2006，本次为第一次修订。