皮革 物理和机械试验 表面涂层厚度的测定 GBT 22889-2008.pdf

GB/T22889-2008皮革物理和机械试验表面涂层厚度的测定1范围本标准规定了皮革表面涂层厚度的测定方法。本标准适用于各种具有涂层的皮革。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。QB/T2706皮革化学、物理、机械和色牢度试验取样部位(QB/T2706一2005,1S02418:2002,M0D)QB/T2707皮革物理和机械试验试样的准备和调节(QB/T2707一2005，IS02419:2002,MOD)3原理垂直于皮革涂层表面切割皮革，用显微镜观察并测量切口处皮革表面涂层的厚度。结果可以表示为涂层厚度，也可以表示为涂层厚度占总厚度的百分比。4仪器设备4.1光学显微镜或电子扫描显微镜，至少20倍的放大倍率。4.2手术刀，显微镜采用上光源或使用电子扫描显微镜时适用。4.3组织切片机，显微镜采用下光源时适用。4.4显微测微尺，精确到0.001mm。5取样和试样准备5.1按QB/T2706取样，按QB/T2707进行预处理。5.2切取3片约10mm10mm的试样，每片试样按5,3或5.4制作纵切面切片。注：如果被测试的一批样品超过2张，则只要每张皮取】片试样，保证试样总数不少于3片。5.3用手术刀(4.2)切穿皮革，确保在切割过程中手术刀的切边垂直于涂层表面。注：按5.3制作的纵切面切片适用于使用上光源的光学显微镜或电子扫描显微镜测试，5.4用组织切片机切取适用于下光源光学显微器测试的试样纵切面切片。6操作步骤6.1使用带有显微测微尺的光学显微镜测试6.1.1把按5.3或5.4制作的剖面切片放在显微镜下。调整切片位置，使显微测微尺的十字线或一个主刻度与涂层和皮革的分界面（线）对齐。如果涂层和皮革的分界面（线）成波浪形，则使显微测微尺的十字线或主刻度处于涂层和皮革的波浪形分界面（线）的波峰和波谷的中间位置（如图1所示）。读取分界面（线）至涂层外表面的刻度数，即为涂层厚度。GB/T22889-20081一皮革2涂层。图1皮革表面涂层测试示意图6.1.2在同一点测量皮革的总厚度。调整切片位置，使显微测微尺的十字线或一个主刻度与皮革的肉面对齐。读取皮革肉面至涂层外表面的刻度数，即为皮革的总厚度。6.1.3重复6.1.1、6.1.2测试利余的两片切片。6.1.4分别计算三片切片涂层厚度和总厚度的算术平均值，精确至0.001mm,6.2使用扫描电子显微镜测试6.2.1将5.3准备的纵切面切片切面朝上放在试样台上，用金或金-把合金喷金，6.2.2将喷过金的试样放在电子扫描显微镜下，调整切片位置，如6.1.1所述读取分界面（线）至涂层外表面的刻度数，即为涂层厚度。6.2.3如6.1.2所述在同一点测量皮革的总厚度。6.2.4重复6.2.1、6.2.2、6.2.3测试剩余的两片切片。6.2.5分别计算三片切片涂层厚度和总厚度的算术平均值，精确至0.001mm。7结果的表示7.1直接以厚度表示，精确至0.001mm。7.2以涂层厚度占总厚度的百分比表示，精确至0.01%，百分比按式(1)计算：X=100(1）式中：X一涂层厚度占总厚度的百分比，%：t一涂层厚度的平均值，单位为毫米(mm):T一皮革总厚度的平均值，单位为毫米(mm)。8试验报告试验报告应包含以下内容：a)本标准编号；b)涂层厚度的平均值：c)皮革总厚度的平均值：2