圆柱直齿渐开线花键 检验方法 GBT 3478.5-1995.pdf

UDC621.886.6J18B中华人民共和国国家标准GB/T3478.5一1995圆柱直齿渐开线花键检验方法Straight cylindrical involute splines inspection methods1995-07-12发布1996-05-01实施国家技术监督局发布GB/T3478.5-19955.1基本方法用综合通端花键塞规或环规控制内花键作用齿槽宽最小值Ev及渐开线终止圆直径敏小值D,或外花键作用齿厚最大值Sw,及渐开线起始圆直径最大值Dx,从而控制花键副的作用侧隙最小值Cvma,保证花链齿侧配合性质。同时用非全齿止端花键塞规或环规或用测量M值(M:或M心)或W值等方法，控制内花键实际齿槽宽的最大值E或外花键实际齿厚的最小值S,从而控制内、外花键的最小实体尺寸。这种检验方法适用于综合公差入和加工公差T允许相互补偿的花键副。5.2方法A这种方法是在基本方法的基础上，增加用综合止端花键塞规或环规，控制内花键作用齿槽宽最大值Evx或外花键作用齿厚最小值Svm,从而控制花键副的作用侧隙最小值Cva和敏大值Cvms。这种方法适用于作用侧隙有公差要求的花键副。采用这种检验方法，为控制花键副的最大作用侧隙C,当花键的综合误差入很小，综合止端花键塞规或环规通过时，应相应压缩总公差(T十)值，即不允许因出现较小的综合误差入，而用综合公差入来补偿加工公差T,但当入较大时，可以用较小的加工公差T予以补偿，此时总公差(T十)值保持不变。5.3方法B这种方法与方法A基本相同，只是将内花键实际齿槽宽最大值E和外花键实际齿厚最小值Sm作为工艺保证的尺寸，只进行抽查检验或定期检验。这种方法适用于工艺稳定，能保证综合公差入和作用侧隙有公差要求的花键副。采用这种检验方法时，综合公差入和加工公差T的补偿关系同方法A。5.4单项检验法用测量M值(Me或Me)或W值等方法，控制内花键实际齿槽宽最大值E和最小值E,或外花键实际齿厚最大值S,和最小值S,用检险齿距累积误差F,、齿形误差：和齿向误差Fg的方法间接地控制花键的综合误差入。这种方法既用于零件的验收，又可用于分析性检验。5.4.1用于零件的验收这种方法适用于无综合量规或无法制造综合量规的花键产品（如单件生产、小批量生产、直径大的花键)。5.4.2用于分析性检验5.4.2.1分析性检验的目的当一个零件被量规拒收或一对花键工作状况不良时，可用分析性检验找出拒收及工作状态不良的原因（见表1），以便提高产品质量在进行分析性检验时，建议用分度误差代替齿距累积误差。5.4.2.2分度误差的确定5.4.2.2.1由于齿距累积误差包括了分度误差和花键实际轴线相对于加工基准或测量基准的偏心两部分，该偏心对齿侧配合的花键用综合量规检验时没有影响。因此，应将分度误差同花键的偏心分离开来。3