原子荧光光谱仪性能测定方法 GBT 32266-2015.pdf

GB/T32266-2015式中：6一漂移量：I一30min内测得荧光强度最大值：I。一30min内测得荧光强度最小值；了一测得荧光强度的算术平均值。7.2检出限7.2.1测定仪器检出限的代表元素见表1。表1测定仪器检出限的代表元素仪器类别代表元素单道原子荧光光谱仪As双道原子荧光光谱仪As、SbHg多道原子荧光光谱仪As、Sb、Bi、Se等Hg元素均为单道测量，可采用冷原子或火焰法，多道原子荧光光谱仪应选用相应数目的元素同时测定，7.2.2测量条件同第6章，使用5%（体积分数）盐酸的空白溶液，连续进行11次测量，如果在测量中有一个测量值被认为是由外界干扰或操作失误引起的异常值，此组数据全部作废，应重新进行测量，不应任意取舍或补测，选取连续11次测量数据，按式(2)计算空白溶液荧光强度的标准偏差。(1o-i)S。=4nn1a111nna（2）n一1式中：S。一空白溶液的标准偏差；I。一某一次空白溶液荧光强度测量值：7。一11次空白溶液荧光强度测量的算术平均值：”一测量次数。7.23按表2仪器类别中规定的代表元素及标准溶液质量浓度，分别测量标准空白溶液和不同浓度标准溶液的荧光强度值，减去空白溶液荧光测量值，制作校准曲线，求其校准曲线的斜率。7.2.4按式(3)计算仪器测定代表元素的检出限。D.-3Seb式中：D1一检出限，单位为纳克每毫升(ng/mL):b一校准曲线斜率。7.3重复性测量条件同7.2.2，按表2仪器类别中规定的代表元素的标准溶液质量浓度，进行连续7次重复测量，在测量过程中如有一个测量值被确认是由外界干扰或操作失误引起的异常值，则此组数据全部作废，应重新进行测量，不应任意取舍或补测。重复性按式(4)进行计算。3