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石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第5.1部分:空白详细规范 鉴定批准 GBT 12273.501-2012.pdf
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石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第5.1部分:空白详细规范 鉴定批准 GBT 12273.501-2012 石英 晶
GB/T12273.501-2012前言本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。GB/T12273石英品体元件电子元器件质量评定体系规范分为如下儿个部分:一第1部分:总规范;一第2部分:使用指南:一第3部分:标准外形和引出端连接:一第4部分:分规范能力批准:一第4.1部分:空白详细规范能力批准:一第5部分:分规范鉴定批准:一第5.1部分:空白详细规范鉴定批准。本部分为GB/T12273的第5.1部分。本部分代替GB/T15020一1994电子设备用石英品体元件空白详细规范电阻焊石英晶体元件评定水平E,与GB/T15020一1994相比,除编辑性修改外主要变化如下:一由于本标准的体系增加了分规范,空白详细规范根据分规范修改相应的引用内容:删去了应该直接写在分规范中的规定内容:一标准编号按标准不同部分进行了调整。本部分使用重新起草法修改采用IEC61178-3-1:1993石英品体元件IEC电子元器件质量评定体系第3部分:分规范鉴定批准第一篇:空白详细规范。本部分与IEC61178-3-1:1993相比在结构上有调整,原因是:IEC61178-1被1EC60122-1:2002代替,目前IEC61178的其他部分还继续有效。根据IEC60122的预计结构,本部分应为IEC60122的第5.1部分,待修订时即进行编号调整。本部分采用了EC60122的预计结构。这样的结构请晰并方便使用,并且与EC有关频率控制和选择用元器件规范结构的调整趋势一致。本部分作了下列编辑性修改:一外形和尺寸图由第三视角改为第一视角:规范性引用文件中的EC文件为目前的现行版本。一用GB/T2828.1一2003代替1EC410:1973计数检查抽样方案和程序,前者与后者在使用中无技术性差异。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由全国频率控制与选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口。本部分起草单位:中国电予元件行业协会压电品体分会、中国电子技术标准化研究所。本部分主要起草人:章怡、姜连生、李晓英。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:-GB/T15020-1994.I

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