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搪玻璃层厚度测量 电磁法 GBT 7991-2003.pdf
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搪玻璃层厚度测量 电磁法 GBT 7991-2003 玻璃 厚度 测量 电磁 7991 2003
1CS71.120.99:25.220.50G94中华人民共和国国家标准GB/T7991-2003代替GB/T7991一1987搪玻璃层厚度测量电磁法Measurement of vitreous and porcelain enamel coatingthickness-Magnetic method(ISO 2178:1982,No-magnetice coatings on magnetic substrates-Measurement of coating thickness-Magnetic method,MOD)2003-06-16发布2004-01-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布GB/T7991-2003前言本标准修改采用IS02178:1982磁性金属基休上的非磁性涂层厚度的测定磁性测量法(英文版)。本标准根据IS02178:1982重新起草。本标准在采用1S02178:1982时,依据搪玻璃设备的特点和磁性测厚仪目前的技术水平进行了修改。有关技术性差异已编入正文中并在它们所涉及的条款的页边空白处用垂直单线标识。在附录A中给出了技术性差异及其原因一览表,以供参考。为便于使用,对于IS02178:1982本标准还做了下列编辑性修改:)“本国际标准”一词改为“本标准”:b)删除1S02178:1982的前言:)将一些适用于国际标准的表述改为适用于我国标准的表述。本标准代替GB/T7991一1987塘玻璃层的厚度测量电磁法。本标准与GB/T7991一1987相比主要有以下不同:一删除了GB/T7991一1987的第1章“定义”:一依据1S02178:1982,增加了本标准第3章中的3.6、3.7、3.8、3.10、3.12,第4章中的4.2、4.3.1、4.3.4,第5章中的5.3、5.5、5.6、5.7、5.8、5.9、5.10。本标准的附录A为资料性附录。本标准由中国石油和化学工业协会提出。本标准由全国搪玻璃设备标准化技术委员会归口。本标准起草单位:天华化工机械及自动化研究设计院、淄博工业搪瓷厂、山东济宁超声电子仪器厂、沈阳市东华检测仪器厂。本标准主要起草人:桑临春、沙庆谦、张品、杨长明、梁彩霞。本标准所代替标准的历次版本发布情况为:-GB/T7991一1987。

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