金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法 GBT 6462-2005.pdf

ICS25.220.20A29中华人民共和国国家标准GB/T6462-2005/IS01463:2003代替GB/T6462一1986金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法Metallic and oxide coatings-Measurement of coating inckness-Microscopical method(IS01463:2003,IDT)2005-06-23发布2005-12-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布GB/T6462-2005/1S01463:2003金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法1范围本标准规定了运用光学显微镜检测横断面，以测量金属覆盖层、氧化膜层和釉瓷或玻璃捷瓷覆盖层的局部厚度的方法。警告：应用本标准可能涉及到危险的材料、操作和装置的使用。本标准没有提出使用过程中的任何健康危害和安全问题。在运用本标准前，使用者有责任根据国家或当地的规定制定合适的健康和安全条例，并采取相应的措施，2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T12334金属和其他非有机覆盖层关于厚度测量的定义和一般规则(idt IS02064)3术语和定义GB/T12334确立的以及下列术语和定义适用于本标准。局部厚度local thiekness在参比面内进行规定次数厚度测量的平均值。4原理从待测件上切割一块试样，嵌后，采用适当的技术对横断面进行研磨、抛光和浸使。用校正过的标尺测量覆盖层横断面的厚度。注：有经验的金相学家对这些技术很熟悉，对于经验不足的操作者，第5章和附录A中给出了一些指南。5影响测量不确定度的因素5.1表面粗糙度如果覆盖层或覆盖层基体表面是粗糙的，那么与覆盖层横断面接触的一条或两条界面线是不规则的，以致不能精确测量（见A.5)。5.2横断面的斜度如果横断面不垂直于待测覆盖层平面，那么测量的厚度将大于真实厚度。例如：垂直度偏差10，将产生1.5%的误差注：附录B中B.1提供了关于倾斜横断面的指南。5.3覆盖层变形镶嵌试样和制备横断面的过程中，过高的温度和压力将使软的或低熔点的覆盖层产生有害变形：在制备脆性材料横断面时，过度的打磨也同样会产生变形。5.4覆盖层边缘倒角如果覆盖层横断面边缘倒角，即覆盖层横断面与边缘不完全平整，采用显微镜测量则得不到真实厚度。不正确的镶嵌、研磨、抛光和浸蚀都会引起边缘倒角，因此在镶嵌之前，待测试样常要附加镀层，这1