环境试验 第2部分：试验方法 试验Q：密封 GBT 2423.23-2013.pdf

GB/T2423.23-2013/1EC60068-2-17:1994引言密封不良将会造成电工电子产品的漏气、漏液，从而降低其电性能，有时还会造成本身及附近产品的腐蚀现象，甚至使产品破坏、丧失全部功能。由于使用条件不同，因此对产品的密封要求也不同，为了满足不同的密封要求，从而制定了不同的密封试验方法。所有密封试验的系列分支示于图1。密封试验Q外部检测内部检测普品密时斋器對树套、心轴气体汁漏示踪气体示踪气体气密性(气泡试验液体淮漏增压试羚用质译仪内部预先如压浸水加压浸损QaQeQdQyn图1密封试验的系列分支试验Q按它们所用检测方式的不同，分为下列两组，即：)内部检测：测量经漏泄处进入试验样品的试验介质（液体或气体）所引起的电性能变化：b)外部检测：借助于观察经漏泄处逸出的试验介质。内部检测的两个试验Q和Q1是非常相似的，它们对于某些元件非常有效，如塑料薄膜电容器。但对于这样一些元器件，它们的电性能变化只有在长时间以后（如试验结束后）才可能变得显著，则不推荐使用这方法。外部检测试验，根据它们的应用可以进一步细分。Qa是冒泡试验，用于确定衬套、心轴和衬垫的气密性，其他试验Qc、Qd、Qk、Qy和Qm用于确定容器（金属外壳、仿护罩等）的漏泄。Qc是冒泡试验，包括具有不同灵敏度的三种方法漏率不小于1Pacm3/s(10-5barcm3/s)。试验Qk和Qm是该系列试验中灵敏度最高的方法，它们的灵敏度范围从1Pacm/s(10-5barcm3/s)到大约10-Pacm3/s(10-barcm3/s)。试验Qd是液体漏泄试验，它适用于在制造中充有液体或在试验温度下可变成液体的固体填料的试验样品。电工电子产品防御各种方式的水侵或固体侵人，可根据GB4208一2008中的要求进行试验。在GB4208一2008中，防护等级由各种试验来确定并用数字标记如表1和表2。