石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具 GBT 22319.8-2008.pdf

ICS31.140L21B中华人民共和国国家标准GB/T22319.8-2008/IEC60444-8:2003石英晶体元件参数的测量第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具Measurement of quartz crystal unit parameters-Part 8:Test fixture for surface mounted quartz crystal units(IEC60444-8:2003,IDT)2008-08-06发布2009-01-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布GB/T22319.8-2008/1EC60444-8:20035.2测量夹具的技术要求测量夹具的等效电路和电参数基于IEC60444-1:1986的规定，但本规范中其尺寸和结构与IEC60444-1:1986有差异，以便更适用于无引线品体元件。测量夹具的等效电路按照1EC60444-1:1986的规定，并于图1和图2示出，但未规定测量端之间(如EC60444-1:1986图2中的C,C:)的最大分布电容值。图3和图4分别示出测量夹具的3D轴侧图和外形尺寸。关于所用测量夹具的机械结构不应作规定，但必须保证其电极的机械接触性能达到常规有引线石英品体元件与测量夹具的测量端子之间的接触性能要求。图4是测量夹具的外形尺寸，该夹具确保其与品体元件电极的接触，因而能提供高的测量准确度和测量操作的方便性。为避免测量误差，测量夹具的测量端子应与品体元件电极形成可靠接触。因此测量夹具的测量端子对晶体元件电极必须至少有1.96N(200g)的压力。注：如果晶体在使用时接地，其工作频率可能取决于电路中品休的方位。因此在振荡电路中根据1正60444-1：1986和1E60444-5：1995进行负载谐振测量以校正工作频率时，建议在晶体上使用定向标记（如pad1),6测量系统和C片的校准6.1测量系统的校准对于带有测量系统的测量夹具，在用户使用的频段内，其阻抗的虚部可以忽略。此时用户应使用至少三个可靠的标准阻抗用于校准，即：短路片、开路片和50标准电阻。当测量仪器的测量端之间的分布电容不可忽路时，则应进行开路校准。500标准电阻的技术要求是：在1MHz150MHz频段内，阻值为50(15%)0，且相位为最大0.26.2C片的校准应使用电容表对C片进行校准，其允许值为士0.002pF。品体品体负载电容输入输出输入箱出图1测量夹具的等效电路图2有负载电容测量夹具的等效电路图3测量夹具的3D立体轴侧图2