硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法 GBT 1553-2009.pdf
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硅和锗体内少数载流子寿命测定
光电导衰减法
GBT
1553-2009
体内
少数
载流子
寿命
测定
电导
衰减
1553
2009
中华人民共和国国家标准硅和错体内少数裁流子寿命测定光电导衰减法GB/T1553-2009中国标准出版社出版发行北京复兴门外三里河北街16号邮政箱码：100045网址电话：6852394668517548中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销开本88012301/16印张1字数24千字2010年1月第一版2010年1月第一次印刷书号：1550661-39552如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话：(010)68533533
