光学和光学仪器 环境试验方法 第8部分：高压、低压、浸没 GBT 12085.8-2010.pdf

GB/T12085.8-2010光学和光学仪器环境试验方法第8部分：高压、低压、浸没1范围本部分规定了高压、低压、浸没试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。本试验目的为研究试样的光学、热学、力学、化学和电学等特性受到环境气体高压、低压或水浸没影响的变化程度。2规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T12085的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其量新版本适用于本部分。GB/T12085.1光学和光学仪器环境试险方法第1部分：术语、试险范围(GB/T12085.1一2010,IS09022-1:1994,M0D)3试验条件光学仪器的耐压试验采用下述三种方法。一条件试验方法80：内高压：一条件试验方法81：内低压：一条件试验方法82：浸没。条件试验方法80的环境条件为清洁的干燥空气或氮气，相对湿度小于30%。条件试验方法82用于在使用期间可能遭到浸没的仪器。浸没试验应使用软水并在敞开的水箱里或水压室中进行，浸没的深度根据试样的最高部位决定，水温应在1025之间，泰露期间试样的温度不得低于水温，但也不可超过水温10K。4条件试验4.1条件试验方法80：内高压条件试验方法80内高压的严酷等级按表1。表1严酷等级01020304050607080910111213与外界的压差hPa10024005最大压降/hPa75502010523002001005020105暴露时间/min10工作状态1或2a见5.4.4.2条件试验方法81：内低压条件试验方法81的内低压的严酷条件按表2。1