高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法 GBT 12190-1990.pdf

UDC 621.316.9:621.317.2L06GB中华人民共和国国家标准GB12190-90高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法Measurement of shielding effectiveness ofhigh-performance shielding enclosures1990-02-01发布1990-08-01实施国家技术监督局发布GB12190-90(H2)av=(H2)k(6)(E2)av=(E2)k(8)(A2)s=201g(10)(9)式中：k表示n次测量中第k次结果。5频段I的测试在频段I,优先大环测试和小环测试都可采用。备用大环测试仅用于屏蔽室部分壁面可接近，致使优先大环测试无法进行的场合。大环测试在一定程度上模拟了屏蔽室四周的磁场，用以测量屏蔽室的整体性能。小环测试在一定程度上模拟屏蔽壁附近的源所产生的场，它尤其适宜测量某些特定结构（例如：相邻两板搭接处或门与壁之间的密封导电材料)的屏蔽效能。5.1优先大环测试（用于各壁都可接近的屏蔽室）优先大环测试是用一发射环围绕屏蔽室，使屏蔽壳体感应出的电流流过屏蔽室的大部分接缝，以获得屏蔽室的整体性能。无屏蔽室时环中心处的磁场强度由环电流和屏蔽室尺寸计算确定，有屏蔽室时环中心处的场强经测量直接得到。这种测试布置的另一优点是易于用一个检测环确定某些屏蔽缺陷的位置。作为统一测量方法的基础，本标准只规定一种大环定位方法。更全面的测试至少应在三个彼此近似垂直的平面上定位。5.1.1频率范围100Hz200kHz。5.1.2测试设备和布置信号源、检测装置、测量设备以及它们相对于屏蔽室布置方式都应按5.1.2.1、5.1.2.2条和图1处理。5.1.2.1模拟磁场源磁场由围绕屏蔽室的大环中的电流产生。该环离外屏蔽体至少有25mm的间隙，并且围绕屏蔽室构成一平行四边形，它的两锐角在屏蔽室的两顶点，而钝角在另两拐角处。由图1可知钝角顶点离地板和天花板的距离C和D按以下两式确定：C=wh(10)I+wD=h(11)1+w式中：1屏蔽室长，m;w屏蔽室宽，m;h屏蔽室高，m。大环由带绝缘层的单匝铜线构成，推荐线径为1mm。可用橡胶吸力杯、胶带或两者并用的方法使大环固定在屏蔽室的外表面。为使大环不妨碍门的开关，可在门的上侧部采用电话线形状的卷曲线，如图1所示。在测试频段的低端，如果用匹配变压器可使阻抗失配最小，具有1W输出的超低频振荡器就足以3GB12190-90提供所需的环电流，在高端，则要求更大的功率源和良好的调谐匹配。通过大环的电流可用串接在环内定值电阻上的电压降确定，或用热电偶电流表测出。为防止热电偶电流表过载，应给电流表并联个常闭按钮开关。图1大环测试布置示意图1一发射环（离屏蔽室表面至少25cm):2一可伸缩的卷曲线；3一扭绞引钱：4一热电偶电流表，5一常闭按钮开关：6一超低频振荡器：7一通用输出变压器：8一检测环：9一衰减器，10一检测仪注：检测环位于大环平面内或屏蔽室中。5.1.2.2检测仪器用频率响应满足要求的高阻选频电压表配一个检测环，选频电压表的灵敏度应优于300V。也可用场强仪配一个检测环，但测量结果应予修正。检测环用带绝缘层的导线密绕而成，环的直径为中762mm,圈数为11匝。与环配接的高阻选频电压表（或放大器和电压表的组合装置）的总输入阻抗应远大于环的感抗。5.1.3初测设备布置与图1相同。只是检测内屏蔽壁所用的检测环直径更小，建议取130mm左右。如果要求位置定得更精确，环的直径可取10mm。检测时，在离发射环最近的位置上将出现信号的最大值。但对连续的屏蔽体而言，当检测环沿着平行于发射环平面的方向检测时，接收信号的电平应近似恒定，只是在屏蔽不良处，指示信号才出现峰值。5.1.4基本测量方法信号源和检测仪器应如图1布置，连接所有的测量设备，并预热到稳定状态。信号源、检测仪器两者都应调谐到测量频率。检测环应置于屏蔽室的几何中心点，转动环的平面使接收到的信号最大。振荡器的输出电流应调节到足以测量为止。发射环中的电流可由电流表指示，在测试频段的低端，电流取20200mA。测量时，屏蔽室的所有进出口应完全关闭。将检测仪器正确调谐到信号源的频率（假定为窄带信号），并记录仪表的读数。5.1.5屏蔽室内场强的计算用高阻抗选频电压表测出环感应电压，按下式计算屏蔽室内磁场强度：4