低压开关设备和控制设备 控制器-设备接口(CDI) 第1部分：总则 GBT 18858.1-2012.pdf

ICS29.130.01K30B中华人民共和国国家标准GB/T18858.1-2012/1EC62026-1:2007代替GB/T18858.1一2002低压开关设备和控制设备控制器-设备接口(CDI)第1部分：总则Low-voltage switchgear and controlgear-Controller-device interface(CDI-Part 1:General rules(IEC62026-1:2007,IDT)2012-11-05发布2013-02-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布GB/T18858.1-2012/1EC62026-1:2007目次前言I引言】范围2规范性引用文件13术语和定义24分类35特性5,1CD1元件9909199035.2接口5.3拓扑结构5.4信息交换5.5属性6产品资料9999g8专895899899g9专男958988461安装、操作和维修说明书46,2描述6,3标志46.4防护等级7正常使用、安装和运输条件0040900904909099g7.1一般要求7,2正常使用条件47.3运输和储存条件57.4安装8结构和性能要求33e9年第3车33e书9399333s3e83e年8.1一般要求58,2电磁兼容(EMC)59试验69,1般要求69,2型式试验69,3电磁兼容试脸7GB/T18858.1-2012/1EC62026-1:2007前言GB/T18858低压开关设备和控制设备控制器-设备接口分为3个部分：一第1部分：总则：一第2部分：执行器传感器接口(AS-):一第3部分：DeviceNet。本部分为GB/T18858的第1部分。本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本部分代替GB/T18858.1一2002低压开关设备和控制设备控制器-设备接口(CDI)第1部分：总则，与GB/T18858.1一2002相比，主要变化如下：一第2章“规范性引用文件”中更新部分标淮的引用版本：一更新表1“抗扰度要求”中部分试验型式及试验水平，采用现行版标准中规定的要求，包括：a)射频电磁场辐射抗扰度试验中增加1.4GHz2GHz频段试验范围；b)电快速瞬变脉冲群抗扰度试验中明确对于包含CDI通信介质的全部电缆，其试验水平为电压峰值1kV/重复频率5kHz:对于所有其他电缆和端口，其试验水平为电压峰值2kV/重复频率5kHz。本部分等同采用IEC62026-1:2007低压开关设备和控制设备控制器-设备接口第1部分：总则。本部分与IEC62026-1:2007相比，主要做了下列编辑性修改：一删除了1E62026-1：2007前言：一“本标准”一词改为“本部分”。与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下：一GB14048.1一2006低压开关设备和控制设备第1部分：总则(1EC60947-1:2007,M0D)。本部分由中国电器工业协会提出。本部分由全国低压电器标准化技术委员会(SAC/TC189)归口。本部分负贵起草单位：上海电器科学研究院、上海电科电器科技有限公司。本部分参加起草单位：法泰电器（江苏）股份有限公司、常熟开关制造有限公司、上海电器股份有限公司人民电器厂、上海人民企业集团温州电器有限公司、上海电器设备检测所、中国质量认证中心、浙江天正电气股份有限公司。本部分主要起草人：黄兢业、季慧玉。本部分参加起草人：丁高峰、邵建国、冯俊、金灵满、阮庆州、张颖、贾颖巍、李芃。本部分所代替标准的历次版本发布情况为：-GB/T18858.1-2002.GB/T18858.1-2012/1EC62026-1:2007引言本部分范围内的控制器-设备接口(CD)种类包含了控制系统、工厂自动化和过程自动化用的工业CDI.工业CDI已扩大使用范围以满足特殊用户的需要，但是没有一种CDI能够满足所有要求。形成多种型式CDI的原因在于对CDI物理性能、用途、信息含量以及结构要求的范围广泛。为了满足距离、节点数量和环境的条件，不同物理要求导致CD的信号和线路调节机能也各不相同。虽然CDI的技术变化多端，但本部分规定了通用元件、通用接口和环境要求。有关对CDI通用要求的标准化规定可以帮助用户通过技术对比和选用来满足特殊用途对距离、节点数量、数据处理能力和装置的要求。本部分通过编制一份专用CDI标准，提供一个通用结构，并列入专用接口的特性和能力，使CDI的选用过程得以简化。第1章第8章列人CDI标准规定的基本要求概要，第9章列入试验规定。CDI特性的标准化也简化了编写工业控制系统高级功能软件（如管理控制，操作员接口和控制策略编程软件)的任务。为使这份标准完整并便于使用，要求提供专用CDI标准，这些标准已列入GB/T18858系列标准的其他部分。GB/T18858.1-2012/1EC62026-1:2007低压开关设备和控制设备控制器-设备接口(CDI)第1部分：总则1范围本部分适用于在低压开关设备和控制设备与控制器（如可编程控器、个人计算机等）之间的接口。本部分不适用于由IEC/SC65C研究的称为现场总线的更高层工业通信网络。GB/T18858的本部分规定了用于工业CDI的定义规则、元件及基本性能要求。有关各类CDI的标准特性可作为基本要求集中列人本部分。在确定各种CDI的全部要求和试验时，需采用以下两份主要文件：a)本部分，在包括各种类型CDI的相关标准中称为“第1部分”：b)GB/T18858系列标准中的专用CDI部分，如果总则不适用，CDI专用标准可以不采用，或如果基木要求在特殊场合不适合，CDI专用标准可对总则加以补充，但是专用标淮的内容不应违背其基本要求，除非确有充分的技术理由。注：对于装有CD1的产品，其产品具体要求在有关产品标准中规定，除了本部分所规定的要求外，有关产品标准的规定适用，2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB4824一2004工业，科学和医疗(1SM)射频设备电磁骚扰特性限值和测量方法(IEC/CISPR 11:2003.IDT)GB/T17626.2一2006电磁兼容试脸和测量技术静电放电抗扰度试验(IEC61000-4-2:2001,IDT)GB/T17626.3一2006电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验(IEC61000-4-3:2002,1DT)GB/T17626.4一2008电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验(IEC61000-4-4:2004,1DT)GB/T17626.5一2008电磁兼容试验和测量技术浪涌（冲击）抗扰度试验(IEC61000-4-5:2005,1DT)GB/T17626.6一2008电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度(IEC61000-4-6:2006,1DT)GB/T17799.2一2003电磁兼容通用标准工业环境中的抗扰度试金(IEC61000-6-2:1999,IDT)IEC60947-1:2007低压开关设备和控制设备第1部分：总则(L.ow-voltage switchgear and con-torlgear-Part 1:General rules)