非磁性基体金属上非导电覆盖层 覆盖层厚度测量 涡流法 GBT 4957-2003.pdf

GB/T4957-2003/1S02360:1982门为这类测量进行了校准。4.5曲率试样的曲常影响测量。曲常的影响因仪器制造和类型的不同而有很大的差异，但总是随曲米半径的减少而更为明显。因此，在弯曲的试样上进行测量将是不可靠的，除非仪器为这类测量作了专门的校准。4.6表面粗糙度基体金属和覆盖层的表面形貌对测量有影响。粗糙表面既能造成系统误差又能造成偶然误差：在不同的位置上作多次测量能降低偶然误差。如果基体金属粗糙，还需要在未涂覆的粗糙基体金属试样上的若干位置校验仪器零点。如果没有适合的未涂覆的相同基体金属，应用不浸蚀基体金属的溶液除去试样上的覆盖层，4.7外来附若尘埃涡流仪器的测头必须与试样表面紧密接触，因为仪器对妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的外来物质十分敏感。应该检查测头前端的清洁度。4.8测头压力使测头紧贴试样所施加的压力影响仪器的读数，因此，压力应该保持恒定。这可以借助于一个合适的夹具来达到。4.9测头的放置仪器测头的倾斜放置，会改变仪器的响应：因此，测头在测量点处应该与测试表面始终保持垂直。这可以借助于一个合适的夹具来达到。4.10试样的变形测头可能使软的覆盖层或薄的试样变形。在这样的试样上进行可靠的测量可能是做不到的，或者只有使用特殊的测头或夹具才可能进行。4.11测头的温度由于温度的校大变化会影响测头的特性，所以应该在与校准温度大致相同的条件下使用测头测量。5仪器的校准5.1概述每台仪器在使用前，都应按制造商的说明，用一些合适的校准标准片进行校准，并对第4章中列举的因素和第6章中叙述的程序给予适当的注意。5.2校准标准片已知厚度的校准标准片可以是箔也可以是有覆盖层的标准片。5.2.1校准箔5.2.1.1用于涡流仪器校准的标准箔通常由适当的塑料制成。箔有利于在弯曲表面上的校准，并且比有覆盖层的标准片更容易获得。5.2.1.2为了避免测量误差，应保证箔与基体紧密接触：如果可能的话，应避免使用具有弹性的箔。标准箔易于形成压痕，必须经常更换。5.2.2有覆盖层的标准片有覆盖层的标准片由已知厚度的、厚度均匀且与基体材料牢固结合的非导电覆盖层构成。5.3校准5.3.1校准标准片的基体金属应具有与试样的基体金属相似的电学性能。建议将从无覆盖层的校准标准片的基体金属上得到的读数与从试样基体金属上得到的读数作比校，以确认校准标准片的适用性。5.3.2如果基体金属厚度超过4.3中定义的临界厚度，则覆盖层厚度测量不受基体金属厚度的影响。如果没有超过临界厚度，则测量和校准的基体金属厚度应该尽可能相同。如果不能这样，则应用一片足