电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减 GBT 5095.2503-2021.pdf
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电子设备用机电元件
基本试验规程及测量方法
第25-3部分：试验25c：上升时间衰减
GBT
5095.2503-2021
电子
ICS31.220.10L23中华人民共和国国家标准GB/T5095.2503-2021/EC60512-25-3:2001电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-3部分：试验25c:上升时间衰减Electromechanical components for electronic equipment-Basic testing procedures and measuring methods-Part 25-3:Test 25c:Rise time degradation(IEC 60512-25-3:2001,Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 25-3:Test 25c:Rise time degradation,IDT)2021-03-09发布2021-10-01实施国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会发布
