电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比 GBT 5095.2501-2021.pdf

GB/T5095.2501-2021/1EC60512-25-1:2001目次前言1总则1.1范用和目的.12术语和定义12试验设施.2.1设备2.2装置.23试验样品3.1说明34试验程序.34.1方法A(时域法)4.2方法B(频城法)5相关标准应规定的细则5,1所有试脸5,2仅时域法65,3仅频域法65.4按相关标准补充推荐的装置规范66试验记录文件.附录A(规范性附录)装置和设备的示意图附录B(资料性附录)实用指南12GB/T5095.2501-2021/1EC60512-25-1:2001前言GB/T5095电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法按试验方法分为若干部分。GB/T5095的第25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下：一第25-1部分：试验25a:串扰比：一第25-2部分：试验25b:衰减（插入损耗）：一第25-3部分：试验25c:上升时间衰减：一第25-4部分：试验25d:传输时延；一第25-5部分：试验25：回波损耗：一第25-6部分：试验25f:眼图和抖动：一第25-7部分：试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR):一第25-9部分：信号完整性试验试验25i:外来串扰。本部分为GB/T5095的第25-1部分，本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-1:2001电子设备用连接器试验和测量第25-1部分：试验25a:串扰比。本部分做了下列编辑性修改：一标准名称由电子设备用连接器试验和测量第25-1部分：试验25：串扰比修改为电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-1部分：试验25：串扰比。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口。本部分起草单位：四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。本部分主要起草人：庞斌、朱茗、肖森、刘俊、汪其龙。