表面污染测定 第1部分：β发射体(Eβmax＞0.15 MeV)和α发射体 GBT 14056.1-2008.pdf

GB/T14056.1-2008表面污染测定第1部分：D发射体(EBmax0.15MeV)和发射体1范围GB/T14056的本部分规定了测定B发射体（最大B能量大于0.15MV)和。发射体表面污染的方法。本部分适用于以单位面积放射性活度表示的设备、设施、放射性物质的容器以及密封源的表面污染测定。本部分仅限于符合下述条件的B发射体和发射体：)B粒子加单能电子的粒子产生率为每100次衰变发射出接近100个粒子；b)a粒子的粒子产生常为每100次衰变发射出接近100个粒子。B发射体详见附录A中表A.3。本部分不适用于皮肤和工作服的污染测定。2规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T14056的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T5202辐射防护仪器a、B和a/B(3能量大于60keV)污染测量仪与监测仪(GB/T5202一2008,EC60325:2002,IDT)GB/T12128用于校准表面污染监测仪的参考源B发射体和a发射体(GB/T12128一1989，neq IS08769:1986)GB18871电离辐射防护与辐射源安全基本标准3术语和定义下列术语和定义适用于GB/T14056的本部分。3.1表面污染surface contamination表面具有放射性物质的污染。3.2固定的表面污染fixed surface contamination在正带工作条件下以不可转移的方式附着在表面的污染。注：“正常工作条件”是假设在该条件下，可能造成去除表面污染的机械作用的最大强度限定为人体与表面正常的非事故性的接触（有防护服和无防护服）或人直接操作的设备部件与表面之间以类似强度的非破坏性接触，搽拭法的作用强度应该与这些类型的机截作用相符合。GB/T14056.1-20084测定表面污染的方法4.1总则表面污染可以通过直接和间接测量方法来测定。直接测量是采用表面污染测量仪和监测仪进行的，这类仪表测定的是可去除的与固定的污染之和。间接测定通常是采用擦拭法进行的，用擦拭法只能测定可去除的表面污染。测量表面污染的目的：)确定污染物的存在或扩散，并控制它由较高污染区向较低污染区或向非污染区的转移：b)测定单位面积上的放射性活度，以证实是否超过表面污染控制水平（导出限值）。满足上述目的两种测量方法的适用性和可靠性主要依赖于某些特定的情况，也就是：污染物的物理和化学形态：污染物在表面上的粘着性能（固定的或可去除的）：以及对被测量表面是否可接近或是否存在干扰辐射场等。当表面有非放射性液体或固态的沉淀物或有干扰辐射场存在时，直接测量可能是特别困难的或不可能的。特别是由于场所或相对位置的局限，使直接测量不容易接近污染表面，或者是干扰辐射场严重地影响污染监测仪的工作时，间接方法一般更为合适。但是，间接方法不能测量固定污染，又由于去除因子通常有较大的不确定性，故间接方法一般更多地用于可去除污染的测量。由于直接方法和间接方法对测量表面污染均存在固有的缺陷，所以在很多情况下，两种方法都采用，以保证测出结果最好地满足测量的目的。因为仪器效率随能量而变化，所以在测定具有各种能量的B污染时应该特别小心（也见第5章）。对于显示表面放射性活度的仪器尤其应注意。4.2表面污染的直接测量4.2.1对测量仪器的要求测量仪器的特性和性能应符合于GB/T5202的要求。仪器应能测量GB18871中规定的表面污染控制水平以下的放射性活度，污染测量的结果将与该限值比较。注：用于表面污染直接测量的仪器通常具有20cm2200cm2的灵坟窗，正常本底条件下，可测表面污染水平，对。发射体低于0.04Bgcm,对B发射体低于0.4Bgcm。探测器的适用性，不但由仪器效率决定，而且还由灵蚊窗的大小而定，对于大面积污染的测量，应采用有较大灵敏窗的探测器。4.2.2探测程序4.2.2.1在探测器灵敏窗和待检查表面避免接触的情况下，将探测器在表面上方慢慢地移动，并监听声频的变化。音响指示是舜间的并与所采用的响应时间无关。对于数字显示或表头显示的仪表，应密切观察其数字及表头指针的变化。一旦探测到污染区，应把探测器放在这个区域上方，在足够长的时间内保持位置不变，以便进一步确认。4.2.2.2探测器和被测表面之间的距离应在可行的情况下尽可能的小。为此可采用定位架。4.2.3测量程序4.2.3.1测量时，应遵守所用测量仪器的有关操作规程和要求：)进行测量前应测定被测场所的本底计数率；b)应经常检查仪器本底计数*；c)应用合适的检验源校验仪器是否正常，校验频度：经常用的仪器每日校验一次，其他的仪器每次使用前校验，仪器对检验源的读数变化超过士20%时应重新校准：d)测量期间的几何条件应与仪器校准时所采用的几何条件尽可能保持一致，为此可采用可移动的定位架：)为了准确地测量，探测器在三倍响应时间(95%的指示值)内应保持固定：