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表面污染测定 第2部分:氚表面污染 GBT 15222-1994.pdf
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表面污染测定 第2部分:氚表面污染 GBT 15222-1994 表面 污染 测定 部分 15222 1994
中华人民共和国国家标准表面污染测定GB/T15222-94第二部分氚表面污染Evaluation of surface contamination-Part 2:Tritium surface contamination本标准等效采用国际标准IS07503-2:1988表面污染测定一第2部分:氟表面污染.1主题内容与适用范围本标准规定了航表面污染的测定方法和程序。本标准适用于设备、设施、放射性物质容器和密封源表面的氯表面污染测定。本标准不适用于皮肤和工作服氚表面污染的测定。2引用标准GB8703辐射防护规定3术语3.1氟表面污染附着在表面上和被吸收到表面内的氚总活度。3.2可直接测量的氟表面污染可直接测量到的氟表面污染。3.3可去除的氚表面污染”在正常工作条件)下可去除的或可转移的氚表面污染。注:1)在一些外部的化学因素(例如潮湿,腐蚀等)和物理因素(例如,周围气压或温度变化、震动、冲击、影张,收缩)的影响下或者由于扩散的结果,全部氟污染可能转化为可去除污染:氟表面污染可能是易挥发的或包含易挥发部分,它们可能在正常条件下挥发从而成为可去除污染,对此应做适当的估计,2)“正常作用条件”是指在此条件下,能够去除表面污染的最大机械作用强度只限于人体与表面之间正常的、非事故性接触或人操作的设备部件与表面之间具有类似强度的非破坏性接触。单次擦拭通常不会除去全部的可去除污染。3.4单位面积放射性活度存在于表面的氯污染与该表面面积之比,以Bg/cm2表示。3.5可去除氟表面污染的间接测定利用擦拭样品测定可去除的氟表面污染的活度。3.6擦拭检验用干的或湿的擦拭材料擦拭污染表面以取得可去除的放射性活度样品,然后对转移到擦拭材料上的放射性活度进行测定。注:为确定氘表面污染,多数采用湿法擦拭。国家技术监督局1994-09-24批准1995-08-01实施1GB/T15222-943.7去除因子(F)擦拭材料从表面擦除的放射性活度与该次取样前可去除的表面污染的活度之比。去除因子由式(1)定义:F-会式中:A一擦拭材料从表面上擦除的放射性活度;A,一一取样前被擦拭的污染表面上总的可去除放射性活度。注:当有大量的污染物和表面材料结合时,去除因子F的值可以采用反复擦拭,彻底去除的方法,由实验确定。逐次去除的放射性活度之和趋近于总的可去除放射性活度。这样利用式(1)由首次擦拭所去除的活度及总的可去除活度值,可得出去除因子。4测定表面污染的方法4.1概述氟的B粒子射程即使在空气中也非常短,而且氚又有很大的活动性。它可能滲入到表面下某一深度,这使得直接或间接测定总的氟表面污染非常困难。用污染测量仪进行直接测量时,仪器不能测量吸收到表面里面的放射性活度。问接测量法采用湿法擦拭,能对采样时可去除表面污染给出一个适当的估计值。然而,滲入到表面内的氰污染又会扩散到表面,成为新的可去除表面污染。为更好地弄清楚在特殊情况下的实际危害,应采用直接测量和间接测量相结合的方法。在大多数情况下,用擦拭法评估由于与氟污染表面接触所造成的实际放射危害,是一种适当的方法。4.2氟表面污染的直接测量4.2.1测量仅器直接探测氟表面污染的仪器可能对表面上的和一部分吸入表面中的活度均能响应。特殊设计的无窗探测器,如正比计数器和闪烁探测器均可用来直接探测各种形式的氚表面污染。有些仪器,由于在操作时能使污染表面气压,温度发生变化,可用来探测到不稳定氚的存在,即氯的扩散特性。为防止探测器受污染,建议使用间隔板或可去掉的屏蔽罩。4.2.2对仪器的要求仪器应能可靠地测量到低于国家标准GB8703规定的表面污染限值水平的活度,污染测量的结果要与该限值进行比较。4.2.3探测程序在关于距离及探测的气体成分符合操作要求的情况下,使仪器在被测表面上方连续移动或把仪器依次放在被测表面上,同时监听仪器声频的变化。对于数字显示或表头显示的仪表,应密切观察其数字及表头指针的变化。一旦探测到污染区,探测器应该置在这个区域上方不动,并保持足够的时间,以便进行可靠的探测。实际探测时,应先检查低活度区再到高活度区,以减少交叉污染。4.2.4测量程序当进行测量时,必须遵守测量仪说明书规定的操作规程以及下述要求:。必须测定待测区域上具有代表性地点的本底计数率。为此,可在待检表面盖上一张清洁的纸:b.因探测器易被污染,必须经常检查本底计数率:.应该用一个合适的检验源检验仪器功能是否正常。经常用的仪器检验频度为每日校验一次:不常用的在使用之前进行校验。仪器对检验源的读数变化超过士20%时必须重新校准;d.有时可能需要一个可移去的定位架。4.3可去除表面污染的间接测定4.3.1总则2GB/T15222-94间接测量法尤其适合于下列表面污染:a.不允许直接测量(例如,由于轮廓位置等原因);b.直接测量受辐射场干扰的位置:.表面上有其他材料,减少了可直接测量的辐射强度。然而,间接测量法不能给出存在表面下不稳定佩的危害。4.3.2探测限目前,所采用的液体闪烁计数器和无窗计数器分别能测到0.4Bq和40Bq。依据这些较低的探测限值,当擦拭面积100cm2而去除因子F值采用0.1时,可去除的氟表面污染测量下限分别可达0.04Bg/cm2和4Bq/crm2。4.3.3采样可去除氚表面污染的探测和测定应采用湿的擦拭样品注:膨体聚苯乙烯即使没有润湿剂也是一种有效的擦拭材料。其优点是它能完全溶解于某些液态闪烁体中,因此能确保高的计数效率。以特殊形式存在的不溶于液态闪烁体中的氯污染(例如金漏的氟化物),可用干擦拭法取样。当从大面积上取擦拭样品时,下面几点必须考虑,以便确定污染的分布:a.如果可能,被擦拭的面积必须是100cm2,b.在规程允许更大面积上擦拭的地方,必须在更大面积上取样,这时在按4.3.4计算结果时须用实际擦拭面积进行。如果取样面积非常大,应避免用一个拭子,因为去除因子随面积增加而减小.擦拭材料的选择应根据待检查的表面性质和计数要求而定,例如对平滑表面用滤纸,对粗糙表面用棉织品:。必须选用一种适当的擦拭材料润湿剂,一般可采用甘油。润湿剂不得从擦拭材料中渗出;.擦拭时必须适度地压着拭子,最好用一个为保证均匀和稳定压力而设计的夹具;f.必须擦拭整个100cm2的面积;g.在用液体闪烁计数以外的其他计数法时,探测器灵敏面积必须大于擦拭的样品面积:山.用液闪计数法测量拭子,应直接放入含有适量闪烁液的样品瓶中:1.为了使氟活度接近平衡分布,在计数前湿擦拭样品在闪烁液里必须放置约20mn:.不用的擦拭材料应储存在无氟的场所:k。对高污染表面进行擦拭检验时,为避免样品的交叉污染需更换手套。4.3.4擦拭样品测量虽然使用正比探测器(无窗或内流气型)对干法擦拭更适合,但一致采用总是有效的测量氟擦拭样品的方法是用液闪计数。在考虑放入闪烁液中擦拭样品时,必须注意如下两点:a。不要由于擦拭材料量大或淬灭效应引起闪烁光的过量损失:b.不要由于发光剂引起假闪烁计数。被擦拭表面以Bq/cm2表示的单位面积氰表面污染活度A银与擦拭样品的活度的关系由式(2)给出:AAR=FXS40444t44t4444444t44t444(2)式中:A一用标准液体闪烁计数技术测定的擦拭样品的活度,Bq:F一去除因子:S一擦拭面积,cm2在测量时,去除因子最好通过实验确定,否则F取0.1。5污染测量的记录污染检验报告应包括下述内容:

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