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半导体集成电路
模拟开关测试方法
GBT
14028-2018
半导体
集成电路
模拟
开关
测试
方法
14028
2018
GB/T1402820183.9通道转换时间channel conversion time对于多路转换器,在控制信号作用下,导通通道转换所需的时间。3.10最高控制频率maximum control frequency模拟开关输出电压幅度下降到规定值时的控制脉冲频率。3.11截止态隔离度off isolation模拟开关处于截止状态下的输入信号对输出信号幅度之比。3.12截止态馈通频率feedback off frequency截止态隔离度为规定值时,模拟开关输人端所加正弦信号的最高频率。3.13导通态串扰衰减on crosstalk attenuation多路模拟开关中处于导通状态的模拟开关通路输出电压与处于导通状态的另一模拟开关通路输出电压之比。3.14输入串扰衰减input crosstalk attenuation多路模拟开关中截止状态通道的输入电压与另一个导通态的通道输出电压之比。3.15控制信号串扰control signal crosstalk模拟开关的输入电压零,控制端施加规定脉冲信号时,模拟输出电压。3.16导通电阻路差率on resistance mismatch rate between channel对于含多个模拟开关的器件或模拟多路转换器,各路开关导通电阻间的失配误差率。3.17导通电阻温度漂移率on resistance change rate with temperature不同温度条件下,模拟开关导通时,开关两端间的电阻阻值随温度变化率。3.18通道转换无效输出时间channel conversion invalid time对于多路转换器,在选通控制信号作用下,复用输出通道切换信号过程中的无效信号传输时间。3.19电荷注入量charge injection模以开关寄生电容因电荷注人效应,引发的开关输出端电平信号跳变量。4总则4.1则试环境要求除另有规定外,电测试环境条件如下:一环境温度:1535。一环境气压:86kPa106kPa。如果环境湿度对试验有影响,应在相关文件中规定。