半导体器件 分立器件 第4-1部分：微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范 GBT 21039.1-2007.pdf

GB/T21039.1-2007/1EC60747-4-1:2000前言本部分是半导体器件分立器件系列国家标准之一。下面列出本系列已有的和正在制定的国家标准：一GB/T4589.1一2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范：一GB/T12560一1999%半导体器件分立器件分规范：一GB/T17573一1998半导体器件分立器件和集成电路第1部分：总则：一GB/T4023一1997半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管：一GB/T6571一1995半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管：一GB/T20516一2006半导体器件分立器件第4部分：微波器件：一GB/T21039.1一2007半导体器件分立器件第4-1部分：微波二极管和品体管微波场效应品体管空白详细规范：一GB/T15291一1994半导体器件第6部分：品闸管：一GB/T4587一1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分：双极型品体管3：一GB/T4586一1994半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管：一半导休器件分立器件第9部分：绝缘册双极型品体管，本部分等同采用1EC60747-4-1:2000半导体器件分立器件第4-1部分：微波二极管和晶体管微波场效应品体管空白详细规范（英文版）。为了便于使用，本部分作了如下编辑性修改：a)用小数点“.”代替作为小数点的逗号“，”：b)删除国际标准的前言；c)第7章订货资料“3.7规定的质量评定类别”和“36规定的筛选顺序”原文中章条号编辑性错误，应为“3.8规定的质量评定类别”和“3.7规定的筛选顺序”：d)第8章试验条件和检验要求“，引用或重新规定GB/T12560一1999中3.8的数值，”原文中章条号编辑性错误，应为“，引用或重新规定GB/T12560一1999中3.7的数值，”；)C3分组检验要求极限中“无损坏”，原文编辑性错误，应为“无损坏”：D经比较本部分C8分组的引用标准IEC60747-8-1附录1在内容上与本部分附录A一致，因此本部分中C8分组的引用标准改为本部分附录A。本部分中引用的国家标准对应等同采用的IEC标准是：国家标准编号IEC标准编号GB/T4589.1-20061EC60747-10(1991)GB/T20516-20061EC60747-4(2001)GB/T12560-19991EC60747-11(1985)本部分中引用的国家标准及试验方法号相对应等同采用的IEC标准中的试验方法是：国家标准编号及方法号正C标准试验方法号GB/T4586-19944.2T-071GB/T4586一19944.5T-074GB/T4586-19944.3T-072GB/T4587一19954.1.13.6T-044