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半导体发光二极管光辐射安全 第2部分:测试方法 GBT 39771.2-2021.pdf
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半导体发光二极管光辐射安全 第2部分:测试方法 GBT 39771.2-2021 半导体 发光二极管 光辐射 安全 部分 测试 方法 39771.2 2021
GB/T39771.2-20214.2供电电源LED应工作在产品所规定的电流或电压下,偏差不大于士0,2%。4.3预热时间LED应在预热稳定后进行测试。预热时间从施加电源到发光达到稳定状态,至少为15mi。稳定状态是指每分钟测试一次,连续测试5次,最大光输出变化不大于0.5%时则可认为达到稳定状态,4.4测试场所测试应在暗室中进行,照度小于0.51x,环境表面的反射比小于10%。测试暗室中不应有其他福射源,如电脑显示屏、指示灯等。在被测LED和探测器之间应设置光阑,消除环境表面的反射杂散光。4.5测试设备测试设备的不确定度应符合相关规范的技术要求。光谱测试设备、辐亮度测试设备、辐照度测试设备和校准辐射源等应符合附录A的规定。4.6安全警告在测试过程中,某些ED可能发射强的紫外和蓝光福射,对操作者的眼睛和皮肤造成光福射危害。由于在得到测试结果之前,其真实的光辐射危害程度是未知的,因此,操作者应做好防护措施,避免近距离、长时间直视被测试光源,尤其是避免通过光学系统直接观察测试目标。在测试过程中操作者应高开LED的测试区域。5测试要求5.1作用光谱函数LED光辐射安全的评价是通过测试相应危害类型所对应的作用光普函数加权辐照度和辐亮度来判断的。图1a)所示是眼睛和皮肤的紫外危害作用光谱函数Sv(a),图1b)所示是视网膜蓝光危害作用光谱函数B(入)及无晶状体视网膜紫外危害的作用光谱函数A(入)。1.E+001.E+011.E-011.E+001.E-021.E-01B刷)是1.E-031.E-021.E-041.E-031.E一05十十十十十十十十十十2002202402602803003203403603804001.E-04H波长/nm300400500600700a)b长/m图1作用光谱函数

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