半导体激光器测试方法 GBT 31359-2015.pdf

ICS31.260L51B中华人民共和国国家标准GB/T31359一2015半导体激光器测试方法Test methods of semiconductor lasers2015-02-04发布2015-08-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布GB/T31359-2015前言本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会(SAC/T284)归口。本标准起草单位：西安炬光科技有限公司、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院半导体研究所、北京国科世纪激光技术有限公司、武汉华工正源光子技术有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所。本标准主要起草人：刘兴胜、赵卫、许国栋、张艳卷、杨军红、马晓宇、唐琦、吴迪、王贞福、王警卫、谢彦虎、王家赞、李小宁、史俊红、陈海蓉、仲莉、石朝辉、张恩、许海明、张国新。