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X、γ射线和电子束辐照不同材料吸收剂量的换算方法 GBT 15447-1995.pdf
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X、射线和电子束辐照不同材料吸收剂量的换算方法 GBT 15447-1995 射线 电子束 辐照 不同 材料 吸收剂量 换算 方法 15447 1995
目次1主题内容与适用范围4*444车行*0:(1)2引用标准3意义与用途4术语(1)5X、Y射线能注量谱积分计算法(2)6X、y射线质量能量吸收系数比值法(3)7电子束辐照下材料间的吸收剂量换算(4)8准确度(4)附录A带电粒子平衡厚度(补充件)附录B10keV20MeVX、Y射线在某些元素与化合物中的质量能量吸收系数4a/p(cm2g1)(补充件)附录C0.1MeV一10.0MeV电子束在某些材料中的实际射程(gcm2)(补充件)(13)附录D10keV20MeV电子束在某些元素与化合物中的质量碰撞阻止本领与连续慢化近似(csa)射程(补充件)(们4)附录E连续光子能谐下吸收剂量计算实例(参考件)(20)附录F接近单能光子能谱下吸收剂量换算实例(参考件)(23)GB/T15447-19954(E)/p的具体值必须针对能谱平(E)中不同光子的能量E来确定。5.3在同样辐照条件下,为了能把一种材料的吸收剂量与另一种材料的吸收剂量联系起来,测量点与周围介质必须满足电子平衡。如果辐射被较厚的吸收材料减弱,辐射的能谱与注盘率将发生变化,计算时应对此进行修正。5.4式(1)中的积分可以用简单的算术方法估算,对特定能量的A(E)/p值查附录B。如果附录中无对应的能量可采用内插法确定,具体能量可以在整个射线能谱中把能量分成若干间隔,间隔尽可能小。为了选择适当的4(E)/p,可以取间隔的起始能量或中点能量。5.5通常能谱平(E)可以取任意单位,并归一到某个辐射源参数。如果采用一种标准的或校准过的剂量计,式(1)中的积分必须针对构成剂量计的材料。1值即为剂量计的吸收剂量值除以积分值。5.6从材料A中测得的剂量值计算材料B中的剂量值可采用如下步骤:5.6.1由于测量吸收剂量的位置为材料的某一深度处,计算的第一步是把测得的剂量与表面剂量联系起来,求得表面剂量D,。这可以将一定条件下经实验测定的A材料中的深度剂量曲线外推来实现,见附录A图A1。5.6.2对材料A计算式(1)中的积分,然后确定I值,即计算外推得到的表面吸收剂量与该积分值之比。5.6.3计算在材料B待测深度处的能谱:,(E)=业(E)exp-(A.(E)/p)t*4*4*n0(3)式中t是入射表面到待测位置间的厚度(gc),业。(E)为入射能注量谱。注:此式没有考虑积累效应。5.6.4对平,(E)与材料B进行式(1)的算术积分,按5.6.2把得到的积分值乘以材料A中确定的1值,此乘积即为材料B中待测位置的吸收剂量。6X、Y射线质量能量吸收系数比值法在射线能谱递降不显著时,材料中的吸收剂量D与剂量计测得的吸收剂量D:之间或两种材料吸收剂量之间的换算,有下列情况:61剂量计灵敏区的厚度比入射光子产生的最高能量的次级电子的射程小得多,剂量计沉积的能量绝大多数来自周围材料中产生的次级电子,故材料中的吸收剂量可用公式(4)表示:D=(S/p)/(S/p)aDa4*040(4)式中(S/P)。与(S/P):分别为周围材料与剂量计材料的质量碰撞阻止本领。质量碰撞阻止本领值见附录D。62剂量计灵敏体积的厚度远大于最高能量次级电子的射程时,沉积在剂量计中的能量绝大部分来自剂量计本身的次级电子,材料中的吸收剂量由公式(5)给出:D.=(p/p)/(/p)aDa0*0040(5)式中(4/p)m与(4a/p)a分别为材料与剂量计的质量能量吸收系数。6.3剂量计灵敏体积的厚度介于上述6.1与6.2两种情况之间,可以用公式(4)、(5)根据相对贡献大小乘上权重因子按公式(6)计算:D.=d x(S/p)a/(S/p)(1-d)x(p/p)a/(/p)1.D*4(6)式中d为周围材料中释放的次级电子在剂量计内沉积能其占总沉积能量中的份额,它可由公式(?)求得:d=(1-A)/g式中g为平均路径长度,当剂量计体积为V,表面积为S时,g=4V/S。P为有效质量减弱系数,B=4.6R。,R。为次级电子的实际射程。64如果在电子平衡条件下材料A中的吸收剂量D1已由上述公式确定,那么在基本相同的条件辐照3

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