电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗 GBT 5095.2505-2021.pdf

GB/T5095.2505-2021/1EC60512-25-5:2004电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-5部分：试验25e:回波损耗1范围GB/T5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。本部分描述了用于测量作为频率函数的回波损耗的频域法和时域法。2术语和定义下列术语和定义适用于本文件。2.1回波损耗return loss样品测量的反射信号与输人信号之比。注：可用分贝(dB)表示，2.2样品环境阻抗specimen environment impedance由装置在样品信号导线上引起的阻抗。该阻抗是由传输线路、终端电阻、附装的接收器或信号源，以及装置的寄生效应产生的。3试验设施3.1设备3.1.1频域采用具有适用于受试器件(DUT)动态范围的网络分析仪。差分测量时，可采用具有多端口试验位置成平衡-不平衡转换器的网络分析仪。3.1.2时域优先采用时域反射计(TDR)、触发脉冲发生器和合适的快速里叶变换(FFT)软件。3.2装置3.2.1概述样品环境阻抗应与试验设备的阻抗匹配。除非详细规范中另有规定，通常，对于单端测量，该阻抗为50，差分测量为1000。装置和设备的示意图见附录A。3.2.2样品导线配置每次测量时，应按详细规范中的规定安装好激励线路。在规定的样品环境阻抗内，线路的远端（终