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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗) GBT 5095.2502-2021.pdf
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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减插入损耗 GBT 5095.2502-2021 电子
ICS31.220.10L23B中华人民共和国国家标准GB/T5095.2502-2021/EC60512-25-2:2002电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)Electromechanical components for electronic equipment-Basic testing procedures and measuring methods-Part 25-2:Test 25b:Attenuation(insertion loss)IEC 60512-25-2:2002,Connectors for electronic equipment-Tests andmeasurements-Part 25-2:Test 25b:Attenuation(insertion loss),IDT2021-03-09发布2021-10-01实施国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会发布GB/T5095.2502-2021/1EC60512-25-2:2002电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)1总则1.1范围和目的GB/T5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。本部分描述了测量作为频率函数的衰诚/插入损耗的频域法和时域法。注:本文件从始至终引用了“衰减”一词。当按样品和传输线类型进行测量的专业试验人员总结和报告试验测量结果时,必须使用合适的术语(衰诚或插人损耗),1.2术语和定义下列术语和定义适用于本文件,1.2.1衰减attenuation在样品从输入到输出的传输过程中功率的诚少。通常,测量值以分贝(B)为单位。1.2.2插入损耗insertion loss由于连接器或类似器件插人传输线中所产生的功率损耗。通常,测量值以分贝(B)为单位。1.2.3样品环境阻抗specimen environment impedance由装置在样品信号线上引起的阻抗,该阻抗是由传输线路、终端电阻、附装的接收器或信号源以及装置的寄生效应产生的。2试验设施2.1设备2.1.1频域优先选用网络分析仪。当要求较大频率范围时,可采用信号发生器和频谱分析仪或矢量网络分析仪(用于全2端口校准测量)来代替。如必要,可使用附加设备来增加测量的灵敏度(如宽带输出放大器或低噪声前置放大器)。对于差分测量,可采用带有合适软件或平衡-不平衡转换器的多端口网络分析仪,2.1.2时域优先选用时域反射计(TDR)、触发脉冲发生器和合适的快速傅里叶转换(FFT)软件。2.2装置除非参考文件中另有规定,样品环境阻抗应与试验设备的阻抗匹配。通常对于单端测量,该阻抗为1

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