非易失性存储器耐久和数据保持试验方法 GBT 35003-2018.pdf
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非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
GBT
35003-2018
非易失性存储器
耐久
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试验
方法
35003
2018
GB/T35003-2018前言本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。本标准由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口。本标准起草单位：中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、北京兆易创新科技股份有限公司、深圳国微电子有限公司、成都华微电子科技有限公司。本标准主要起草人：罗晓羽、董艺、郭晓宇、高硕、刘妙、谢休华。
