辐射探测器环境试验基本要求与方法 温度试验 GBT 10263.2-1988.pdf

UDC621.039:681.2.001.4F85B中华人民共和国国家标准GB10263.2-88辐射探测器环境试验基本要求与方法】温度试验Basic environmental testing procedures forradiation detectors-Temperature test1988-12-30发布1989-10-01实施国家技术监督局发布GB10263.2-88温度箱厂受试器件测试系统辐射源探测器电源温度试验测试方框图4.2把温度箱内的温度调到基准温度202，按产品的技术标准中规定，测量受试器件的性能参数。4.3带温度冲击的高温试验：将温度箱调到所需温度的等级，受试器件放人温度箱内。开门时间应少于2min,放人箱内后，恢复到开门前温度所需时间不得超过15min;不带温度冲击的高温试验：先将受试验件放入箱内，然后将温度箱的温度调到所需等级温度。再在规定温度下保持一定时间（按表中规范选择，但不得少于2h),按产品技术标准测量此温度下受试器件同一性能参数。4.4如果是非工作状态下试验，在试验结束后，在室温下放置12h,对受试器件进行电参数和外观检查。4.5完成高温试验后，受试器件是否恢复一段时间，还是直接进人低温试验、可由产品的技术标准规定。4.6带温度冲击低温试验：将温度箱的温度调到所需低温值，受试器件放入低温箱内；不带温度冲击试验：先将受试器件放入温度箱内，然后调节温度到所需值。按4.3条要求进行低温试验，按产品技术标准测量此温度下的性能参数。温度性能可采用下面三种表达方式：a.给出一定温度下的参数值；b.给出参数的相对变化，可用温度系数表示。计算公式如下：XTh-XoST=XT-Ta100%/(1)XT1-To1ST1=XoTo-T100%/(2)式中：X为基准温度T时，受试器件的某参数值；X7试验温度为T时，受试器件的某参数值；Xr,试验温度为T1时，受试器件的某参数值。c.给出外观性能。5试验结果试验过程中和试验结束后，对试验器件进行外观检查和性能参数检测，均应符合产品的技术标准。2GB10263.2-88附加说明：本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会提出。本标准由核工业部北京核仪器厂负责起草。