航空电子过程管理 航空电子产品高加速试验定义和应用指南 GBZ 31477-2015.pdf

GB/731477-2015/1EC/TS62500:2008前言本指导性技术文件按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本指导性技术文件使用翻译法等同采用1EC/TS62500:2008航空电子过程管理航空电子产品高加速试验定义和应用指南。本指导性技术文件由全国航空电子过程管理标准化技术委员会(SAC/TC427)提出并归口。本指导性技术文件起草单位：中航工业综合技术研究所、中航工业西安航空计算技术研究所。本指导性技术文件主要起草人：李永红、孙瑞锋、孟玥然、罗学刚、常海娟、赵威力、安海军。GB/Z 31477-2015/IEC/TS 62500:2008航空电子过程管理航空电子产品高加速试验定义和应用指南1范围本指导性技术文件规定了高加速试验的对象、基本原理、适用范围和实施程序，其目的是便于产品的项目主管、设计人员、试验主管和RAMS专家制定高加速试验方案并组织试验实施工作。本指导性技术文件适用于所有产品项目，为负责产品设计开发和生产的供应商以及要求供应商在合同条款中开展高加速试验的顾客提供技术支持。注：本指导性技术文件适用于组成系统的所有设备类型（电子、机电、机械、电动液压、电动气压等）和所有的产品层次（从组件，如PCB、机械组件、连接器等，到设备或系统级产品）。2术语、定义和缩略语2.1术语和定义下列术语和定义适用于本文件。2.1.1步进应力step stressing逐步提升的施加在产品上的应力水平。2.1.2硬故障hard failure返回到低应力水平下不会消失，只能通过修理才能消除的故障。2.1.3软故障soft failure在某应力水平下出现，返回到低于该水平的应力量值时会消失的故障。2.1.4外在缺陷extrinsic defect产品在设计和生产过程中造成的缺陷或者薄弱环节，如果能经济地消除该类型缺陷将有效提升产品的工作裕度和（或）破坏裕度。注：这种缺陷往往是由于设计或工艺未按最优标准执行所致，而与技术能力的限制无关。2.1.5固有缺陷intrinsic defect与产品的设计、材料、工艺、组装或包装相关的缺陷，这种缺陷可在产品设计规范要求的应力条件下激发出来。2.1.6潜在缺陷latent defect在产品中确实存在但尚未被析出的缺陷，使用传统的性能检测方法不能检测到该类缺陷。2.1.7明显缺陷patent defect通过施加环境应力析出后，用常规的性能检测方法可以检测到的产品缺陷。因此，明显缺陷是潜在缺陷使用一定环境应力（如温度、振动等）激发出来的。